TOFD全解析-07
TOFD全解析-07
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上一期留下一個(gè)問題就是,,在B掃圖像上深度相同的缺陷一定在相同的深度上嗎,?答案是不一定的,,為什么呢,?下面就該問題進(jìn)行詳細(xì)說明,。
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首先按照之前將的TOFD視圖構(gòu)成方式里講的,,在TOFD的B掃視圖中,相同的深度代表的是相同的聲時(shí),,也就是聲音的傳播時(shí)間相同,,而從發(fā)射探頭到缺陷,缺陷再到接收探頭的整個(gè)路徑上,,如果傳播時(shí)間相同,則這些點(diǎn)的連線并不是一條直線,,而是一條橢圓線,,如下所示。
所以等時(shí)橢圓線上任何位置的缺陷,,具有相同的傳播時(shí)間,,也就是說聲時(shí)相同的缺陷信號(hào)在一個(gè)橢圓線上分布。
當(dāng)然實(shí)際上,,這個(gè)橢圓并沒有像上圖那樣的大曲率,,尤其是在中間的焊縫區(qū)域的深度變化不是很大,,所以可以認(rèn)為深度近似一致。但如果是在探頭下方的母材中存在缺陷,,有可能深度誤差比較大。
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還有大家需要了解一點(diǎn),,TOFD檢測(cè)上下表面都是有盲區(qū)的,而且上表面的盲區(qū)會(huì)比下表面的盲區(qū)更大一些,。下面具體看一下哪些地方有盲區(qū)呢?
上表面盲區(qū):由于直通波信號(hào)具有一定寬度,,而產(chǎn)生上表面盲區(qū)。
而直通波的盲區(qū)大小跟許多因素相關(guān),其中包括探頭的頻率,、探頭PCS(中心距),楔塊角度等,。
后面會(huì)專門用一個(gè)章節(jié)來講述如何減小直通波的盲區(qū)問題,。
下表面盲區(qū):由于缺陷偏離探頭中心位置而產(chǎn)生的盲區(qū),。
如下圖所示,,由于底波信號(hào)也是等聲時(shí)的,,而底波的信號(hào)非常強(qiáng)烈,,所以如果缺陷位于偏離探頭中心位置,,信號(hào)會(huì)出現(xiàn)在底波信號(hào)之后,,從而被淹沒在底面反射波之中,。
還有一種可能產(chǎn)生盲區(qū)的原因是在縱縫檢測(cè)中,如下圖所示,。
當(dāng)檢測(cè)縱縫時(shí),,兩個(gè)探頭位置低于中心的焊縫區(qū)域,,此時(shí)直通波是兩個(gè)TOFD的出射點(diǎn)的連線,,這樣在兩點(diǎn)連線以上的區(qū)域也是一個(gè)較大的盲區(qū)位置,。
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此處對(duì)TOFD的盲區(qū)進(jìn)行初步的講解,后面還會(huì)有專門的章節(jié)介紹盲區(qū)相關(guān)的內(nèi)容,,而TOFD的盲區(qū)也是TOFD一個(gè)重要的概念,,也是主要需要考慮的問題。
待續(xù)
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