| 半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀 型號(hào)：NIBJ-2939 | 貨號(hào)：ZH9813 |
| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 該儀器充分吸收國(guó)外測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn),，采用了的嵌入式計(jì)算機(jī)和優(yōu)化結(jié)構(gòu),、16位并行A/D和D/A、多開(kāi)爾文反饋,、小信號(hào)精密測(cè)試以及陣列開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu),，并選用材料制作。在系統(tǒng)設(shè)計(jì),、選材,、、制作,、調(diào)試,、校驗(yàn)等諸多方面與現(xiàn)有同類(lèi)系統(tǒng)相比均有較大，從而提高了系統(tǒng)的性能和性,，了該系統(tǒng)項(xiàng)性能指標(biāo)處于,、的地位。 其特點(diǎn)是：側(cè)重于中小功率器件,、測(cè)試品種覆蓋面廣,、測(cè)試精度高、電參數(shù)測(cè)試,、速度快,、有的重復(fù)性和*性、很高的工作穩(wěn)定性和性,，很強(qiáng)的保護(hù)系統(tǒng)和被測(cè)器件保護(hù)能力,。系統(tǒng)軟件功能、使用靈活方便,、操作簡(jiǎn)單,。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定,、硬件故障率低，在實(shí)際測(cè)試應(yīng)用中項(xiàng)指標(biāo)真實(shí)達(dá)到手冊(cè)要求,。 系統(tǒng)采用方便易學(xué)的窗口菜單界面,，在PC機(jī)窗口提示下，輸入被測(cè)器件的測(cè)試條件,，測(cè)試人員即可輕松快捷地控制系統(tǒng),，完成填表編程和開(kāi)發(fā)測(cè)試程序、測(cè)試器件,。操作人員具備計(jì)算機(jī)編程語(yǔ)言知識(shí),，使用簡(jiǎn)捷方便。3分鐘即可完成一種測(cè)試編程,，編寫(xiě)完成后輸入儀器即可測(cè)試,。當(dāng)然還可以在儀器下直接進(jìn)行器件測(cè)試程序及條件的編寫(xiě)，方便靈活,。系統(tǒng)和測(cè)試夾具均采用多開(kāi)爾文結(jié)構(gòu),，自動(dòng)補(bǔ)償系統(tǒng)內(nèi)部產(chǎn)生的壓降，種情況下測(cè)試結(jié)果的精度和準(zhǔn)確性,。 優(yōu)良的,、低廉的價(jià)格、周到的服務(wù)使得該系統(tǒng)在市場(chǎng)具有的競(jìng)爭(zhēng)實(shí)力,。“的,、低端的價(jià)格、周到的,、*的客戶(hù)服務(wù)”是儀美達(dá)產(chǎn)品對(duì)市場(chǎng)和對(duì)客戶(hù)的恒承諾,。 特征 采用脈沖法測(cè)試參數(shù),、脈寬可為300μS,，國(guó)軍標(biāo)的規(guī)定采用嵌入式計(jì)算機(jī)控制，實(shí)現(xiàn)脫機(jī)運(yùn)行 16位并行D/A,、A/D設(shè)計(jì),，測(cè)試速度快、精度高 采用多開(kāi)爾文,，系統(tǒng)穩(wěn)定性高,，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確 采用三保護(hù)，系統(tǒng),，對(duì)被測(cè)器件損傷 豐富的WINDOWS界面菜單編程和控制能力,、方便的用戶(hù)信息文件、統(tǒng)計(jì)文件方式 晶體三管自動(dòng)NPN和PNP 判別能力,，防止選錯(cuò)類(lèi)型 二管性自動(dòng)判別選擇,，用戶(hù)測(cè)試二管不注意性 自檢/自校準(zhǔn)能力 測(cè)試系統(tǒng)需要的其它多種數(shù)據(jù)后處理能力 參數(shù) 主電壓：200V 主電流：10mA 控制1電壓：20V 控制1電流：10A 控制2電壓：20V 控制2電流：1A 電壓分辨率：1mV 電流分辨率：1nA 測(cè)試速度：器件不同速度也不同 試器件種類(lèi) 測(cè)試功能加,，可測(cè)試八類(lèi)中、小功率的半導(dǎo)體分立器件： 二管 穩(wěn)壓（齊納）二管 晶體管（NPN型/PNP型） 可控硅整流器（普通晶閘管） 雙向可控硅（雙向晶閘管） MOS場(chǎng)效應(yīng)管（N-溝/P-溝） 結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管（N-溝/P-溝,，耗盡型/增強(qiáng)型） 光電耦合器 上述所列類(lèi)別包括中,、小功率半導(dǎo)體分立器件及其組成的陣列、組合,、表貼器件,。 測(cè)試方法行業(yè)總規(guī)范、相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn),、jun用器件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),。 提供上述類(lèi)器件測(cè)試所用的不同封裝形式的測(cè)試夾具和測(cè)試適配器。 可以定做種陣列,、組合封裝,、表貼器件的測(cè)試夾具。 幫助用戶(hù)開(kāi)發(fā)種器件的測(cè)試程序,。 參數(shù) 漏電參數(shù)：IR,、ICBO、LCEO/S,、IDSS,、IDOFF、IDGO,、ICES,、IGESF、IEBO,、IGSSF,、LGSSR、IGSS,、IR(OPTO) 擊穿參數(shù)： BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA) BVDSS,、VD、 BVCBO,、VDRM,、VRRM、VBB BVR,、VD+,、VD-、BVDGO,、BV Z,、BVEBO、BVGSS 增益參數(shù)：hFE,、CTR,、gFS 導(dǎo)通參數(shù)：VCESAT,、VBESAT、VBEON,、 VF,、VON、VDSON,、VDON,、VGSON、VF(Opto-Diode) ,、VGSTH,、VTM、VSD,、IDON,、VSAT、IDSS,、IDON 關(guān)斷參數(shù)：VGSOFF 觸發(fā)參數(shù)：IGT,、VGT 保持參數(shù)：IH 鎖定參數(shù)：IL 混合參數(shù)：rDSON、gFS 測(cè)試盒說(shuō)明： 測(cè)試盒共有五種： 1：可測(cè)二管,、穩(wěn)壓二管,； 2：可測(cè)封裝為T(mén)O-92、TO-220等三個(gè)管腳在一個(gè)平面上的三端器件,； 3：可測(cè)封裝為T(mén)O-3及封裝為F1,、F2、F3,、F4三端器件,； 4：可測(cè)三個(gè)管腳分三角形排列，且器件殼體為小圓型的小功率三端器件,； 5：可測(cè)DIP4,、DIP6、DIP8封裝的光電耦合器,； 測(cè)試夾具： 測(cè)試夾具有三根夾子線,，與測(cè)試盒1配合使用,，用來(lái)測(cè)試器件形狀,，不能使用上述五種測(cè)試盒上的插座，則使用此三個(gè)夾子線直接夾在器件的管腳上進(jìn)行測(cè)試,。 表貼器件 其它表貼類(lèi)型的器件,，可根據(jù)實(shí)際器件的封裝定做相應(yīng)的測(cè)試盒。 |  |
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