單雙可控硅測試儀

型號：ZLDTO-92

本測試儀能測試或判斷封裝的可控硅和雙向可控硅的斷態(tài)漏電流,、反向漏電流、門，觸發(fā)電流、門，觸發(fā)電壓,、陰，門,，漏電流,、通態(tài)壓降、通態(tài)平均電流,、維持電流等參數(shù),。
本測試儀具有人工測試和接分選機(jī)自動測試等測試方式。人工測試時,，與測試盒相連,，在測試狀態(tài)下，插入器件后,，就開始測試,，由人工根據(jù)顯示的分檔數(shù)進(jìn)行分選；自動測試時,，與分選機(jī)相連,，由分選機(jī)輸出的“開始測試信號"控制，對器件進(jìn)行測試,，并把分檔結(jié)果送至分選機(jī),。
本測試儀內(nèi)部預(yù)置可修改的方案，開機(jī)即可進(jìn)行測試,。用戶也能夠瀏覽并打印測試結(jié)果,。本測試儀適合于生產(chǎn)廠家對封裝的可控硅和雙向可控硅進(jìn)行批量測試,，也適合于應(yīng)用廠家的篩選測試,。
指    標(biāo)
測試分辨率
漏 電 流：0.1uA
觸發(fā)電流：0.1uA
觸發(fā)電壓：0.01V
通態(tài)平均電流：1mA
維持電流： 0.1mA
%項測試時間
測試斷態(tài)漏電流：≤20mS
測試反向漏電流：≤30mS
測試觸發(fā)電流：≤30mS
測試觸發(fā)電壓：≤20mS
測試陰，門,，漏電流：≤30mS
測試通態(tài)壓降：≤30mS
測試通態(tài)平均電流：≤50mS
測試維持電流：≤50mS