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更新時(shí)間:2025-01-24 21:00:24
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斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術(shù)參數(shù)
德國(guó)斯派克分析儀器公司開(kāi)發(fā)出了一種極其成功的技術(shù),,把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析,。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時(shí)偏振濾光片是不可替代的工具一樣,這種的分析技術(shù)已成為實(shí)驗(yàn)室測(cè)定主量,、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù),,并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺(tái)式偏振X射線熒光光譜儀,。
斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術(shù)參數(shù)
SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件,可獲得好的靈敏度和準(zhǔn)確性,。采用偏振次級(jí)靶以確保*佳激發(fā),,12位樣品自動(dòng)交換器,預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊,,使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀,。
SPECTRO XEPOS配有預(yù)先安裝好的應(yīng)用包,包括:在工廠預(yù)先校正好的各種硬件和分析方法,。適合分析:土壤,、污泥、油中添加劑,、水泥,、爐渣、耐火材料,、電子元器件RoHS檢測(cè)等,。
XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘,、(汞)等元素分析,,檢出下限低,靈敏度高,、穩(wěn)定性好,,可應(yīng)對(duì)歐洲WEEE、RoHS指令,。
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