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x射線光譜儀
  • x射線光譜儀

貨物所在地:廣東深圳市

更新時(shí)間:2024-09-26 11:34:42

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x射線光譜儀SPECTRO MIDEX 采用空冷,、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統(tǒng),,集準(zhǔn)直、聚焦,、樣品激發(fā)于一體,,是功能強(qiáng)大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX 適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。

x射線光譜儀【深圳華普通用科技有限公司(簡稱華普通用):,: 】SPECTRO MIDEX 采用空冷,、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統(tǒng),,集準(zhǔn)直,、聚焦、樣品激發(fā)于一體,,是功能強(qiáng)大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX 適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品,。樣品室配有易于調(diào)節(jié)的樣品臺。通過20倍變焦攝像機(jī)可精確地確定測量位置,。儀器配有計(jì)算機(jī)和專業(yè)化的軟件,,使操作極為簡便。測量點(diǎn)直徑為0.7mm,樣品的總測量時(shí)間不超過100秒,。在測定稀有金屬合金中的金含量時(shí),樣品的測量精度為0.15%,。SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要,,在2分鐘內(nèi)可完成從鋁到鈾的所有數(shù)十種元素的分析,。

主要特點(diǎn):

——電制冷的 SDD 檢測器不需液氮制冷。
——超大樣品內(nèi)倉(475*460*280 mm)可以放超大或者超小的樣品,,對樣品的形狀沒有任何要求,。
——采用上照式光管設(shè)計(jì)(X 光管的光束是從上往下照射樣品的),光斑*電腦控制,,通過攝像頭可在電腦上輕松去選定測試樣品上的某個(gè)點(diǎn)(這個(gè)優(yōu)點(diǎn)對于不規(guī)則樣品來講是zui有優(yōu)勢的),;同時(shí)上照式的光管可以避免在測液體樣品時(shí)發(fā)生泄漏而損壞X 光管的問題。
——攝像頭 20 倍變焦放大,;激光束定位,,彌補(bǔ)了攝像系統(tǒng)可能的位置偏差。
——符合 ISO9001, CE… 德國X 射線安全使用標(biāo)準(zhǔn)
——不僅可對樣品的微小區(qū)域所存在的元素進(jìn)行快速無損的分析鑒定,,還可對超大樣品的表面(面積可達(dá)EC 標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2 倍,,233*160mm),進(jìn)行元素分析,。
——SPECTRO MIDEX X 射線熒光能譜儀是為滿足多種分析任務(wù)而專門研制開發(fā)的微區(qū)分析儀器,,靈敏度高,無破壞性,,適合多種行業(yè)及研究領(lǐng)域,。
——分辨率:160ev , 計(jì)數(shù)率:250000cps(目前zui高計(jì)數(shù)率)。
——軟件驅(qū)動(dòng)的狹縫交換器,,分析面積為 0.2/0.5/1/2.5/3.3 mm. 可自由選擇,,小焦點(diǎn)聚焦方式,能量無損失,,定位更加精準(zhǔn),,可以測試到細(xì)小的焊端,引腳和BGA 焊球,。
——儀器拓展性:用戶可自己建立曲線,,建立測試方法,,擴(kuò)展性較好,可以使儀器十年都保持*,,軟件*升級,。
——快速測定:可設(shè)定精度,自動(dòng)控制測試時(shí)間測試,,測試時(shí)間zui短,。
——內(nèi)置近百種不同材質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
——斯派克公司開發(fā)的 TQ-RoHS 軟件,,具有強(qiáng)大的分析功能,,可以校正多元素重疊,扣除Sb,,Sn 及Br,,As 分別對Cd,Pb 測試的影響,,采用康普頓散射內(nèi)標(biāo)法校正(補(bǔ)正)不同的材質(zhì),。

技術(shù)參數(shù):
兩大分類
SPECTRO MIDEX SD(樣品測試距離2 mm)
SPECTRO MIDEX LD(樣品測試距離20 mm)
激發(fā)
- Mo靶X光管,zui大功率:30W,zui大電壓:48kV
-測量點(diǎn)尺寸:Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
樣品室
-可顯示樣品的攝像系統(tǒng)(可調(diào)焦)
-手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品臺,,樣品定位簡便
-馬達(dá)驅(qū)動(dòng)精確移動(dòng)的XYZ樣品臺,,zui大行程240x178x160 mm(寬x深x高),zui大樣品重量3kg
計(jì)算機(jī)
-外置式計(jì)算機(jī)系統(tǒng),,Windows
操作系統(tǒng),,
-鍵盤,鼠標(biāo),,顯示器,,打印機(jī)
-菜單式軟件,光譜儀參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評估及計(jì)算,,元素成分及分布顯示
檢測器
- Peltier冷卻的Si漂移檢測器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
-以Mn Kα線,,在測量計(jì)數(shù)率為10,000脈沖計(jì)數(shù)時(shí),,能量分辨率:FWHM< 160 eV
-微處理器控制的檢測器和讀出電路
-脈沖計(jì)數(shù)率可達(dá)250,,000 cps
光譜儀數(shù)據(jù)
-電壓:95-120V/200-240V AC,50/60 Hz,
-光譜儀能耗:200W
-儀器尺寸:670x 580x740 mm
-底座尺寸寬x深:500x550 mm
-重量55-70kg(根據(jù)不同配置)
分析
-用于合金元素分析的FP +基本參數(shù)程序
-塑料,、復(fù)合材料用戶名金屬等的RoHS分析程序
環(huán)境條件
-周圍環(huán)境溫度:5-30°C(在20-25°C下,,可達(dá)到標(biāo)定儀器性能)
-在25°C下相對濕度: 10-80 %,無冷凝,,無蒸氣腐蝕,,防塵

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