目錄:深圳華普通用科技有限公司>>X射線熒光光譜儀>>日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀>> ZSX Primus III+X射線熒光光譜儀
| 價格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 電子產(chǎn)品 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 手持式/便攜式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣 |
Rigaku ZSX Primus III +以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣（O）到鈾（U）的主要和次要原子元素。
ZSX Primus III +具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置,。由于樣品室的維護，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機時間,。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長了使用時間,。
樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應(yīng)用很重要,，例如合金分析,。ZSX Primus III +采用的光學(xué)配置進行高精度分析，旨在限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,，如熔融珠和壓制顆粒
EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下分析未知樣品,。節(jié)省時間功能只需點擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,，它可以提供最準(zhǔn)確,，最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應(yīng),，包括線重疊,。SQX還可以校正光電子（光和超輕元素），不同氣氛,，雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng),。使用匹配庫和的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
元素從O到U的分析
管道上方的光學(xué)器件使污染問題最小化
占地面積小,，使用的實驗室空間有限
高精度樣品定位
特殊光學(xué)元件可減少曲面樣品表面造成的誤差
統(tǒng)計過程控制軟件工具（SPC）
吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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