ZSX PrimusIII+在MLCC中的應用
在鈦酸鋇生產(chǎn)過程中，非常重要指標：鋇鈦摩爾比,，簡稱鋇鈦比,。鋇鈦比直接影響鈦酸鋇的四方度，進而影響鈦酸鋇的介電常數(shù)和絕緣電阻,。對于高質(zhì)量的鈦酸鋇粉體,，鋇鈦比的控制精度要求較高，一般控制精度要求小于0.001,。通常是用化學滴定法檢測出BaTiO3中BaO和TiO2的含量,，就可計算Ba/Ti的摩爾比。但化學滴定法的精確程度只有0.002左右,，且操作人員和環(huán)境對誤差的影響大,，不能滿足鈦酸鋇中Ba/Ti摩爾比的要求。也可借助儀器設備(如ICP-OES)精確測量Ba和Ti的元素含量,，再計算Ba/Ti摩爾比,。ICP測微量元素準確的測試設備，但需把樣品制備成液體,，前處理需稀釋幾百上千倍,，這過程易操帶來作誤差，且費時費力,，不能滿足用戶時效性,。
X射線熒光光譜分析技術(shù)擁有高精密度、高準確性,、制樣簡單,、可一次性報出所需目標元素的結(jié)果，是解決以上難題的選擇,，被越來越多的MLCC企業(yè)所采用,。該方法的理論檢測精度達到0.0001-0.0003，滿足鈦酸鋇檢測的要求,。
日本電子材料工業(yè)協(xié)會標準規(guī)格（EMAS）對鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比標準如下：
EMAS-4202
采用玻璃熔片法進行鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比的熒光X射線分析法
EMAS-4203
采用壓片法進行鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比的熒光X射線分析法
在EMAS行業(yè)標準制定中,，共有15家鈦酸鋇生產(chǎn)廠家參與制定。其中,，13家使用的是理學的設備對鈦酸鋇中Ba/Ti摩爾比檢測,，其檢測精度都在千分之一以下，能滿足企業(yè)對高質(zhì)量的鈦酸鋇粉體中Ba/Ti摩爾比控制要求,。
理學公司的X射線熒光光譜儀掃描道ZSX Primus III+對鈦酸鋇粉末質(zhì)量管理,，其鈦鋇比標準偏差（摩爾比）～10-4。根據(jù)實測結(jié)果,，ZSX Primus III+的精度在0.0002~0.0003,。
產(chǎn)品特點：
1,、4KW大功率高頻X射線發(fā)生器；
2,、采用30μm超薄鈹窗膜大幅度提高檢測靈敏度,；
3、上照式方式確保粉末樣品測試的安全可靠性,；
4,、儀器內(nèi)部平行雙真空室提高分析穩(wěn)定性；
5,、全中文定性,、定量分析、維護管理軟件,；
6,、對未知樣品的無標樣分析—New SQX軟件。
分析實例
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