高溫四探針電阻率測試系統(tǒng) 四探針雙電測定儀 雙電測數(shù)字式四探針測試儀

型號：BXA62

BXA62高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)

一,、概述：

采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置的高溫測試探針治具,，滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求,，通過的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率,，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線,，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

二,、適用行業(yè)：

廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè),、高等院校、科研部門對導電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率,、測定硅外延層,、擴散層和離子注入層的方塊

電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率

和電導率數(shù)據(jù).

三,、功能介紹：

液晶顯示,，無需人工計算，并帶有溫度補償功能,，電阻率單位自動選擇,，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復設置,。采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便,，運輸安全,、使用方便,；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù),，自動生成報表,；

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度,、電導率,，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購,。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量,。

該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針,、電壓探針的變換,，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,，自動消除樣品幾何尺寸,、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比,，大大提高度,，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。