高溫四探針電阻率測試系統(tǒng) 四探針雙電測定儀 雙電測數(shù)字式四探針測試儀

型號：BXA62

BXA62高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)

一、概述：

采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具,，滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求,，通過的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線,，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具,。

二、適用行業(yè)：

廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè),、高等院校,、科研部門對導電陶瓷、硅,、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率、測定硅外延層,、擴散層和離子注入層的方塊

電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻,、電阻率

和電導率數(shù)據(jù).

三、功能介紹：

液晶顯示,，無需人工計算,，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇,，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程,，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出,，結構合理、質量輕便,，運輸安全,、使用方便；配備軟件可以由電腦操控,，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表,；

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度、電導率,，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求,。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量,。

該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準,。利用電流探針、電壓探針的變換,，進行兩次電測量,，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸,、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度,，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。