1.電介法露點儀的測量原理      

      利用五氧化二磷等材料吸濕后分解成極性分子,，從而在電極上積累電荷的特性,，設計出建立在含濕量單位制上的電解法微水份儀。目前國際上高精度達到±1.0℃(露點溫度),，一般精度可達到±3℃以內,。

2.電式露點儀的測量原理

         采用親水性材料或憎水性材料作為介質,，構成露點儀電容或電阻，在含水份的氣體流經(jīng)后,，介電常數(shù)或電導率發(fā)生相應變化,，測出當時的電容值或電阻值，能知道當時的氣體水份含量,。建立在露點單位制上設計的該類傳感器,，構成了電傳感器式露點儀。目前國際上高精度達到±1.0℃(露點溫度),，一般精度可達到±3℃以內,。

  3. 鏡面式露點儀測量原理

不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術,，檢測出露層并測量結露時的溫度,，直接顯示露點。鏡面露點儀制冷的方法有：半導體制冷,、液氮制冷和高壓空氣制冷,。鏡面式露點儀采用的是直接測量方法，在保證檢露準確,、鏡面制冷高效率和精密測量結露溫度前提下,，該種露點儀可作為標準露點儀使用。目前國際上*高精度達到±0.1℃(露點溫度),，一般精度可達到±0.5℃以內,。

4.晶體振蕩式露點儀的測量原理

利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性，可以設計晶體振蕩式露點儀,。這是一項較新的技術,，目前尚處于不十分成熟的階段。國外有相關產(chǎn)品,，但精度較差且成本很高,。

5.半導體傳感器露點儀的測量原理

每個水分子都具有其自然振動頻率，當它進入半導體晶格的空隙時,，受到充電激勵的晶格產(chǎn)生共振,，其共振頻率與水的摩爾數(shù)成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子,，從而使晶格的導電率增大,，阻抗減小。利用這一特性設計的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份,。

6.紅外露點儀的測量原理

利用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性,，可以設計紅外式露點儀。目前該儀器很難測到低露點，主要是紅外探測器的峰值探測率還不能達到微量水吸收的量級,，還有氣體中其他成份含量對紅外光譜吸收的干擾,。但這是一項很新的技術，對于環(huán)境氣體水份含量的非接觸式在線監(jiān)測具有重要的意義,。