產(chǎn)品簡介
詳細介紹
孔,、面銅測厚儀 CMI700系列
CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計;采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度,。具有多功能性,、高擴展性和*統(tǒng)計功能,統(tǒng)計功能用于數(shù)據(jù)整理分析,。
型號 | CMI760 | CMI760E | 備注 |
名稱 | 臺式面銅測厚儀 | 臺式孔,、面銅測厚儀 |
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標(biāo)配 |
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| SRP-4探針又稱水晶頭 |
選配 |
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700 SERIES主機參數(shù):
- 存 儲 量:8000字節(jié),非易失性
- 尺 寸:長×寬×高292.1×270×140mm
- 重 量:2.79Kg
- 電 源:AC220V
- 單位轉(zhuǎn)換:通過一個按鍵實現(xiàn)英制和公制的自動轉(zhuǎn)換
- 單 位:可選mils ,、μm,、μin,、mm,、in或%為顯示單位
- 接 口:RS-232 串行接口,波特率可調(diào),,用于下載至打印機或計算機
- 顯 示:帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏,,480(H)×32(V)象素
- 統(tǒng)計顯示:測量個數(shù),標(biāo)準差,,平均值,,zui大值,,zui小值
- 統(tǒng)計報告:需配置串行打印機或PC電腦下載,存儲位置,,測量個數(shù),,銅箔類型,線形銅線寬,,測量日期/時間,,平均值,標(biāo)準差,,方差百分比,,準確度,zui高值,,zui低值,,值域,CPK 值,,單個讀數(shù),,時間戳,直方圖
- 圖 表:直方圖,,趨勢圖,,X-R 圖
SRP-4面銅探頭參數(shù):
- 準確度:5%,參考標(biāo)準片
- 精確度:化學(xué)銅:標(biāo)準差0.2 %,,電鍍銅:標(biāo)準差0.3 %
- 分辨率:0.1μm≥10μm,,0.01μm<10μm,0.001μm<1μm,,0.01mils≥1 mil,,0.001mils<1mil
- 厚度測量范圍:化學(xué)銅:0.25μm–12.7μm(10μin–500μin)
電鍍銅:2.5μm–254μm(0.1mil–10mil)
- 線性銅線寬范圍:203μm–7620μm(8mil–300mil
- 工作特點:應(yīng)用*微電阻測試技術(shù)。系繩式探頭由四支探針組成,,AB為正極CD為負極,;測量時,電流由正極到負極會有微小的電阻,,通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準確可靠得出表面銅厚,,不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。耗損的SRP-4探針可自行更換,,為牛津儀器產(chǎn)品,。探頭的照明功能和保護罩方便測量時準確定位。
ETP孔銅探頭參數(shù):
- 準確度:5%,,參考標(biāo)準片
- 精確度:1.2 mil 時,,1.0% (典型情況下)
- 分辨率:0.01 mils (0.25 μm)
- 電渦流:遵守ASTM E37696 標(biāo)準的相關(guān)規(guī)定
- 測量厚度范圍:2--102μm (0.08 -- 4.0 mils)
- 孔zui小直徑:Φ35 mils (Φ899 μm)
- 孔徑范圍:Φ0.899 mm--Φ3.0 mm
- 工作特點:應(yīng)用電渦流測試技術(shù)。測量時利用探頭釋放出電磁波,,當(dāng)磁場切割金屬層時會發(fā)生磁場變化,,通過計算此變化量計算出孔壁銅厚度,。測量不受板內(nèi)層影響,即使是雙層板或多層板,,甚至在有錫或錫/鉛保護層的情況下,,同樣能夠良好工作。另外,,探頭采用溫度補償技術(shù),,即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板,也能測量孔銅厚度,。
電渦流原理