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     環(huán)境測(cè)試 產(chǎn)品在使用過(guò)程中，有不同的使用環(huán)境（有些安裝在室外,、有些隨身攜帶,、有些裝有船上等等），會(huì)受到不同環(huán)境的應(yīng)力（有些受到風(fēng)吹雨濕,、有些受到振動(dòng)與跌落,、有些受到鹽霧蝕侵等等）,；為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國(guó)標(biāo),、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目,，這些測(cè)試項(xiàng)目包括：

1、高溫測(cè)試（高溫運(yùn)行,、高溫貯存）,；

2、低溫測(cè)試（低溫運(yùn)行,、低溫貯存）,；

3、高低溫交變測(cè)試（溫度循環(huán)測(cè)試,、熱沖擊測(cè)試）,；

4、高溫高濕測(cè)試（濕熱貯存,、濕熱循環(huán)）,；

5、機(jī)械振動(dòng)測(cè)試（隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試,、掃頻振動(dòng)測(cè)試）,；

6、汽車(chē)運(yùn)輸測(cè)試（模擬運(yùn)輸測(cè)試,、碰撞測(cè)試）,；

7、機(jī)械沖擊測(cè)試,；

8,、開(kāi)關(guān)電測(cè)試；

9,、電源拉偏測(cè)試,；

10、冷啟動(dòng)測(cè)試,；

11,、鹽霧測(cè)試；（賽思鹽霧試驗(yàn)箱）

12,、淋雨測(cè)試,； （賽思淋雨試驗(yàn)箱）

13、塵砂測(cè)試,；（賽思砂塵試驗(yàn)箱）

上述環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)如下（部分試驗(yàn)可能沒(méi)有相關(guān)國(guó)標(biāo),，或者是還沒(méi)有找到）：

1、低溫試驗(yàn) 按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》；

GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn),。溫度范圍：-70℃～10℃,。

2、高溫試驗(yàn) 按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》,；沖擊試驗(yàn)箱

GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn),。 溫度范圍：10℃～210℃

3、濕熱試驗(yàn) 按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》,；

GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》 進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn),。 濕度范圍：30%RH～100%RH 4、霉菌試驗(yàn)

按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法長(zhǎng)霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn),。

5,、鹽霧試驗(yàn) 按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。

6,、低氣壓試驗(yàn) 按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》,； GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》；

GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》,； 進(jìn)行低氣壓試驗(yàn),，高、低溫/低氣壓試驗(yàn),。試驗(yàn)范圍：-70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH,。步入式試驗(yàn)室

7、振動(dòng)試驗(yàn) 按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn),。 頻率范圍（機(jī)械振動(dòng)臺(tái)）：5～60Hz（定頻振動(dòng)5～80Hz）,，zui大位移振幅3.5mm（滿(mǎn)載）。頻率范圍（電磁振動(dòng)臺(tái)）：5～3000Hz,，zui大位移25mmP-P,。

8、沖擊試驗(yàn) 按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn),。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2,。

9、碰撞試驗(yàn) 按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn),。

10,、跌落試驗(yàn) 按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》； GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn),。

        說(shuō)明：上面13項(xiàng)比較全面地概括了產(chǎn)品在實(shí)現(xiàn)使用過(guò)程中碰到的外界環(huán)境,；實(shí)際測(cè)試時(shí)，因?yàn)楦鳟a(chǎn)品本身屬性的相差較遠(yuǎn),、使用環(huán)境相差也很大，各公司可以根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn)，適當(dāng)選取,、增加一些項(xiàng)目來(lái)測(cè)試（此產(chǎn)品對(duì)應(yīng)的國(guó)/行標(biāo)中要求的必測(cè)試項(xiàng)目,，當(dāng)然是必須測(cè)試的）；也可以根據(jù)產(chǎn)品特定的使用環(huán)境與使用方法,，自行設(shè)計(jì)一些新測(cè)試項(xiàng)目,，賽思檢測(cè)設(shè)備有限公司以驗(yàn)證產(chǎn)品是否能長(zhǎng)期工作。

        測(cè)試條件：不同的產(chǎn)品測(cè)試條件不一樣,；就拿高溫測(cè)試來(lái)說(shuō),，有些產(chǎn)品要求做高溫貯存測(cè)試，有些要求做高溫運(yùn)行測(cè)試,，有些產(chǎn)品的高溫用85℃做測(cè)試,，有些產(chǎn)品的高溫是用65℃做測(cè)試。但是,，宗旨只有一個(gè),，那就是至少滿(mǎn)足國(guó)/行標(biāo)。要測(cè)試一種產(chǎn)品的可靠性,，找到這種產(chǎn)品的國(guó)/行標(biāo)是必需的,，按照國(guó)/行標(biāo)的要求和指引找出必須的測(cè)試項(xiàng)目與各項(xiàng)目的測(cè)試方法，從而進(jìn)行環(huán)境測(cè)試,；同一種產(chǎn)品,，在不同的階段，測(cè)試條件也不一樣,；一般而言,，產(chǎn)品會(huì)經(jīng)過(guò)研發(fā)、小批量試產(chǎn),、批量生產(chǎn)三個(gè)不同的階段,。在研發(fā)階段，測(cè)試條件zui嚴(yán)（應(yīng)力zui大）,、測(cè)試延續(xù)的時(shí)候zui短,；小批量試產(chǎn)階段，測(cè)試應(yīng)力適中,、測(cè)試時(shí)間適中,；批量生產(chǎn)階段，測(cè)試應(yīng)力zui小,、測(cè)試時(shí)間較短,；三個(gè)階段的主要差別見(jiàn)下表：

     階段實(shí)驗(yàn)?zāi)康膶?shí)驗(yàn)特點(diǎn)實(shí)驗(yàn)要求 研發(fā)發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷，擴(kuò)大設(shè)計(jì)余量高應(yīng)力,、短時(shí)間* 中試考察產(chǎn)品是否達(dá)到基本的可靠性水平中應(yīng)力,、中長(zhǎng)時(shí)間無(wú)明顯故障 批量生產(chǎn)生產(chǎn)工藝條件的穩(wěn)定性低應(yīng)力,、短時(shí)間有條件的允許故障發(fā)生 鑒定鑒定產(chǎn)品的可靠性、計(jì)算產(chǎn)品的MTBF低應(yīng)力,、長(zhǎng)時(shí)間無(wú)特別要求 加速環(huán)境試驗(yàn)技術(shù) 傳統(tǒng)的環(huán)境試驗(yàn)是基于真實(shí)環(huán)境模擬的試驗(yàn)方法,，稱(chēng)為環(huán)境模擬試驗(yàn)。這種試驗(yàn)方法的特點(diǎn)是：模擬真實(shí)環(huán)境,，加上設(shè)計(jì)裕度,，確保試驗(yàn)過(guò)關(guān)。其缺陷在于試驗(yàn)的效率不高,，并且試驗(yàn)的資源耗費(fèi)巨大,。

    加速環(huán)境試驗(yàn)AET(AcceleratedEnvironmentalTesting)是一項(xiàng)新興的可靠性試驗(yàn)技術(shù)。該技術(shù)突破了傳統(tǒng)可靠性試驗(yàn)的技術(shù)思路,，將激發(fā)的試驗(yàn)機(jī)制引入到可靠性試驗(yàn),，可以大大縮短試驗(yàn)時(shí)間，提高試驗(yàn)效率,，降低試驗(yàn)耗損,。加速環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域的研究與應(yīng)用推廣對(duì)可靠性工程的發(fā)展具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。

    加速環(huán)境試驗(yàn)? 激發(fā)試驗(yàn)(Stimulation)通過(guò)施加激發(fā)應(yīng)力,、環(huán)境快速檢測(cè)來(lái)清除產(chǎn)品的潛在缺陷,。試驗(yàn)所施加的應(yīng)力并不模擬真實(shí)環(huán)境，而以提高激發(fā)效率為目標(biāo),。

    加速環(huán)境試驗(yàn)是一種激發(fā)試驗(yàn),，它通過(guò)強(qiáng)化的應(yīng)力環(huán)境來(lái)進(jìn)行可靠性試驗(yàn)。加速環(huán)境試驗(yàn)的加速水平通常用加速因子來(lái)表示,。加速因子定義為設(shè)備在自然服役環(huán)境下的壽命與在加速環(huán)境下的壽命之比,。

     施加的應(yīng)力可以是溫度、振動(dòng),、壓力和濕度(即所謂“四綜合”)及其它應(yīng)力,，應(yīng)力的組合亦是有些場(chǎng)合更為有效的激發(fā)方式。高溫變率的溫度循環(huán)和寬帶隨機(jī)振動(dòng)是*zui有效的激發(fā)應(yīng)力形式,。

    加速環(huán)境試驗(yàn)有2種基本類(lèi)型：加速壽命試驗(yàn)(AcceleratedLifeTesting),、可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)(ReliabilityEnhancementTesting)。

        可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)(RET)用以暴露與產(chǎn)品設(shè)計(jì)有關(guān)的早期失效故障,，但同時(shí),，也用于確定產(chǎn)品在有效壽命期內(nèi)抗隨機(jī)故障的強(qiáng)度。加速壽命試驗(yàn)的目的是找出產(chǎn)品是如何發(fā)生,、何時(shí)發(fā)生,、為何發(fā)生磨耗失效的。

下面分別對(duì)2種基本類(lèi)型進(jìn)行簡(jiǎn)單闡述,。

1,、加速壽命試驗(yàn)(ALT)

    加速壽命試驗(yàn)只對(duì)元器件,、材料和工藝方法進(jìn)行，用于確定元器件,、材料及生產(chǎn)工藝的壽命,。其目的不是暴露缺陷，而是識(shí)別及量化在使用壽命末期導(dǎo)致產(chǎn)品損耗的失效及其失效機(jī)理,。有時(shí)產(chǎn)品的壽命很長(zhǎng)，為了給出產(chǎn)品的壽命期,，加速壽命試驗(yàn)必須進(jìn)行足夠長(zhǎng)的時(shí)間,。

    加速壽命試驗(yàn)是基于如下假設(shè)：即受試品在短時(shí)間、高應(yīng)力作用下表現(xiàn)出的特性與產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間,、低應(yīng)力作用下表現(xiàn)出來(lái)的特性是一致的,。為了縮短試驗(yàn)時(shí)間，采用加速應(yīng)力,，即所謂高加速壽命試驗(yàn)(HALT),。

    加速壽命試驗(yàn)提供了產(chǎn)品預(yù)期磨損機(jī)理的有價(jià)值數(shù)據(jù)，這在當(dāng)今的市場(chǎng)上是很關(guān)鍵的,，因?yàn)樵絹?lái)越多的消費(fèi)者對(duì)其購(gòu)買(mǎi)的產(chǎn)品提出了使用壽命要求,。估計(jì)使用壽命僅僅是加速壽命試驗(yàn)的用處之一。它能使設(shè)計(jì)者和生產(chǎn)者對(duì)產(chǎn)品有更全面的了解,，識(shí)別出關(guān)鍵的元器件,、材料和工藝，并根據(jù)需要進(jìn)行改進(jìn)及控制,。另外試驗(yàn)得出的數(shù)據(jù)使生產(chǎn)廠商和消費(fèi)者對(duì)產(chǎn)品有充分的信心,。 加速壽命試驗(yàn)的對(duì)象是抽樣產(chǎn)品。

 2,、可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)(RET)

    可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)有許多名稱(chēng)和形式,，如步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、應(yīng)力壽命試驗(yàn)(STRIEF),、高加速壽命試驗(yàn)(HALT)等,。RET的目的是通過(guò)系統(tǒng)地施加逐漸增大的環(huán)境應(yīng)力和工作應(yīng)力，來(lái)激發(fā)故障和暴露設(shè)計(jì)中的薄弱環(huán)節(jié),，從而評(píng)價(jià)產(chǎn)品設(shè)計(jì)的可靠性,。因此，RET應(yīng)該在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和發(fā)展周期中zui初的階段實(shí)施,，以便于修改設(shè)計(jì),。

     國(guó)外可靠性的有關(guān)研究人員在80年代初就注意到由于設(shè)計(jì)潛在缺陷的殘留量較大，給可靠性的提高提供了可觀的空間,，另外價(jià)格和研制周期問(wèn)題也是當(dāng)今市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的焦點(diǎn),。研究證明,，RET不失為解決這個(gè)問(wèn)題的方法之一。它獲得的可靠性比傳統(tǒng)的方法高得多,，更為重要的是,，它在短時(shí)間內(nèi)就可獲得早期可靠性，無(wú)須像傳統(tǒng)方法那樣需要長(zhǎng)時(shí)間的可靠性增長(zhǎng)(TAAF),，從而降低了成本,。