介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x的的測(cè)量方法及特點(diǎn)

   介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x在電工制造,、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用,?？梢杂行У匕l(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等,，介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法,。介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x的方法及特點(diǎn)是：
1,、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x采用復(fù)數(shù)電流法，測(cè)量電容,、介質(zhì)損耗及其它參數(shù),。測(cè)試結(jié)果精度高，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量,。
2,、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x是采用了變頻技術(shù)來消除現(xiàn)場(chǎng)50Hz工頻干擾，即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù),；采用大屏幕液晶顯示器,，測(cè)試過程通過漢字菜單提示既直觀又便于操作。
3,、過流保護(hù)功能,，在試品短路或擊穿時(shí)介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x的不受損壞；觸電保護(hù)功能,，當(dāng)儀器操作人員不小心觸電時(shí)候,，儀器會(huì)立即切斷高壓，保障試驗(yàn)人員的安全,。
4,、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x操作簡(jiǎn)便，測(cè)量過程由微處理器控制,，只要選擇好合適的測(cè)量方式,，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成；反接線測(cè)試采用ivddv技術(shù),消除了以往反接線數(shù)據(jù)不穩(wěn)定的現(xiàn)象,。 
5,、一體化機(jī)型，內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容和高壓電源,，便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,，減少現(xiàn)場(chǎng)接線；接地保護(hù)功能,，當(dāng)儀器不接地線或接地不良時(shí),，儀器不進(jìn)入正常程序，不輸出高壓,。
6,、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x的測(cè)量準(zhǔn)確度高，可滿足油介損測(cè)量要求,，因此只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯,，和測(cè)試線即可實(shí)現(xiàn)油介損測(cè)量。
7、自帶CVT測(cè)試功能,，可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測(cè)試,，無需外置附件，可測(cè)量出C1,C2的電容和介損全部測(cè)出,。
8,、全自動(dòng)變頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x突破了傳統(tǒng)的電橋測(cè)量方式,，采用變頻電源技術(shù),，變壓器、互感器,、電抗器,、電容器以及套管、避雷器等介損的測(cè)量是衡量其絕緣性能的基本方法,。
9,、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x是利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換,、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算,；達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、精度高,、操作簡(jiǎn)便,；廣泛適用于套管、電容器,、互感器,、避雷器等設(shè)備的介損測(cè)量。