電感耦等離子體原子發(fā)射光譜儀(ICP—AES)主要用于液體試樣(包括經(jīng)化學(xué)處理能轉(zhuǎn)變成溶液的固體試樣)中金屬元素和部分非金屬元素的定量分析,。將樣品溶液以氣溶膠形式導(dǎo)入等離子體炬焰中，樣品被蒸發(fā)和激發(fā),，發(fā)射出所含元素的特征波長(zhǎng)的光,。經(jīng)分光系統(tǒng)分光后,，其譜線強(qiáng)度由光電元件接受并轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)而被記錄。根據(jù)元素濃度與譜線強(qiáng)度的關(guān)系,，測(cè)定樣品中各相應(yīng)元素的含量,。
等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在一定的環(huán)境下運(yùn)行,，失去這些條件,，不僅儀器的使用效果不好，而且改變儀器的檢測(cè)性能,，甚至造成損壞，縮短壽命,。根據(jù)光學(xué)儀器的特點(diǎn),，對(duì)環(huán)境溫度和濕度有一定要求。如果溫度變化太大,，光學(xué)元件受溫度變化的影響就會(huì)產(chǎn)生譜線漂移,，造成測(cè)定數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，一般室溫要求維持在70～75攝氏度間的一個(gè)固定溫度,，溫度變化應(yīng)小于±1攝氏度,。而環(huán)境濕度過大，光學(xué)元件,，特別是光柵容易受潮損壞或性能降低,。電子系統(tǒng)，尤其是印刷電路板及高壓電源上的元件容易受潮燒壞,。濕度對(duì)高頻發(fā)生器的影響也十分重要,，濕度過大，輕則等離子體不容易點(diǎn)燃,，重則高壓電源及高壓電路放電擊毀元件,，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配,、網(wǎng)絡(luò)中的可變電容放電等,，以至損壞高頻發(fā)生器。一般室內(nèi)濕度應(yīng)小于百分之70,，最好控制在百分之45～60之間,，應(yīng)有空氣凈化裝置。過去由于基建施工,，我們的環(huán)境條件很差,，甚至儀器室多次被水淹，受潮及室溫變化過大,，儀器不是定位困難就是經(jīng)常發(fā)生故障,。搬到新的儀器室后條件改善了,，儀器運(yùn)行就正常多了。
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