電感耦等離子體原子發(fā)射光譜儀(ICP—AES)主要用于液體試樣(包括經(jīng)化學(xué)處理能轉(zhuǎn)變成溶液的固體試樣)中金屬元素和部分非金屬元素的定量分析,。將樣品溶液以氣溶膠形式導(dǎo)入等離子體炬焰中,樣品被蒸發(fā)和激發(fā),,發(fā)射出所含元素的特征波長(zhǎng)的光,。經(jīng)分光系統(tǒng)分光后,,其譜線強(qiáng)度由光電元件接受并轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)而被記錄。根據(jù)元素濃度與譜線強(qiáng)度的關(guān)系,,測(cè)定樣品中各相應(yīng)元素的含量,。
等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣,需要在一定的環(huán)境下運(yùn)行,,失去這些條件,,不僅儀器的使用效果不好,而且改變儀器的檢測(cè)性能,,甚至造成損壞,縮短壽命,。根據(jù)光學(xué)儀器的特點(diǎn),,對(duì)環(huán)境溫度和濕度有一定要求。如果溫度變化太大,,光學(xué)元件受溫度變化的影響就會(huì)產(chǎn)生譜線漂移,,造成測(cè)定數(shù)據(jù)不穩(wěn)定,一般室溫要求維持在70~75攝氏度間的一個(gè)固定溫度,,溫度變化應(yīng)小于±1攝氏度,。而環(huán)境濕度過大,光學(xué)元件,,特別是光柵容易受潮損壞或性能降低,。電子系統(tǒng),尤其是印刷電路板及高壓電源上的元件容易受潮燒壞,。濕度對(duì)高頻發(fā)生器的影響也十分重要,,濕度過大,輕則等離子體不容易點(diǎn)燃,,重則高壓電源及高壓電路放電擊毀元件,,如功率管隔直陶瓷電容擊穿,輸出電路阻抗匹配,、網(wǎng)絡(luò)中的可變電容放電等,,以至損壞高頻發(fā)生器。一般室內(nèi)濕度應(yīng)小于百分之70,,最好控制在百分之45~60之間,,應(yīng)有空氣凈化裝置。過去由于基建施工,,我們的環(huán)境條件很差,,甚至儀器室多次被水淹,受潮及室溫變化過大,,儀器不是定位困難就是經(jīng)常發(fā)生故障,。搬到新的儀器室后條件改善了,,儀器運(yùn)行就正常多了。
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