X射線衍射技術(shù)應(yīng)用:
(1)當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,,分析各結(jié)晶相的比例,。
(2)很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用XRD結(jié)晶度分析,,確定材料的結(jié)晶程度,。
(3)新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù),,為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)。
(4)產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂,、變形等失效現(xiàn)象,,可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,,使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。
(5)納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù),。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑,。
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