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X射線衍射技術(shù)(X-ray diffraction，XRD)是指通過對材料進行X射線衍射,，分析其衍射圖譜,，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段,。工作原理：將單色X射線照到晶體樣品上,，若其中一個晶粒的一組晶面取向和入射X射線夾角為θ時，滿足衍射條件,，則在衍射角2θ處產(chǎn)生衍射,。樣品中有多個晶粒并滿足衍射。通過使用X射線衍射儀的探測器以一定的角度繞樣品旋轉(zhuǎn),，接收到粉晶中不同網(wǎng)面,、不同取向的全部衍射線，獲得相應(yīng)的衍射圖譜,。

X射線衍射技術(shù)應(yīng)用：

（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能,，分析各結(jié)晶相的比例,。

（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析,，確定材料的結(jié)晶程度,。

（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù),，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)。

（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂,、變形等失效現(xiàn)象,，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。

（5）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù),。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑,。