激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室,，實(shí)現(xiàn)光路直通,，消除了光路損耗,，提高檢出限，測定結(jié)果,，重現(xiàn)性及穩(wěn)定性,，光學(xué)系統(tǒng)自動進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性,，免除繁瑣的波峰掃描工作,。直讀光譜儀自動識別特定譜線，與原存儲線進(jìn)行對比,，確定漂移位置，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測定,；這些元素的特征光譜線通過出射狹縫,，射入各自的光電倍增管,，光信號變成電信號,，經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,，然后由計(jì)算機(jī)處理,，并打印出各元素的百分含量。
電極間距較小,，固然激發(fā)容易,，可是隨著放電次數(shù)的增加,，輔助電極凝聚物質(zhì)增加，容易造成長尖使得間距變小,，這樣也會影響分析精度,，特別是向距變化敏感的分析元素分析精度更差,。所以直讀光譜儀的電極間距不能過大也不能過小，一般分析間隙采用4-5毫米,。一般組織結(jié)構(gòu)的不同不會使工作曲線斜率改變,，大體上只有平行移動?？刂圃嚇觼硇Ｕ€的上下平移,，能減少系統(tǒng)誤差。分析試樣經(jīng)切割以后,、要磨去表面氧化層,，用研磨機(jī)磨樣時(shí),，試樣和標(biāo)鋼要同時(shí)操作，要力求操作一致,，用力過大則易使表面氧化。磨紋要求一致,，不應(yīng)有交叉紋,。試樣磨后不宜放置過長，否則造成試料表面氧化,，影響分析結(jié)果,。一般可采用中軟，粒度為360的砂輪片磨樣,，此外也可用砂紙或砂輪磨樣。
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