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識(shí)破涂層測(cè)厚儀與膜厚儀之間存在哪些微妙關(guān)系關(guān)鍵是取決于這些
閱讀：1587 發(fā)布時(shí)間：2021-1-30
涂層測(cè)厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別？膜厚儀和涂層測(cè)厚儀是同一種產(chǎn)品，叫法不一樣,，就好像光澤儀大家會(huì)叫光澤度儀，光澤度計(jì),，光澤測(cè)試儀,。
膜厚儀一般來(lái)說(shuō)和涂層測(cè)厚儀是一類產(chǎn)品。
膜厚儀一般是測(cè)氧化膜層厚度,，常見的鋁基,，銅基氧化，測(cè)量時(shí)候用涂層測(cè)厚儀選擇N（非磁性）探頭,，這樣測(cè)鋁基等氧化層也稱為膜厚儀,。
涂層測(cè)厚儀正常情況下有兩種測(cè)量原理，配F合N探頭,，或者FN一體探頭,。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測(cè)厚儀誤差比較大,，需要用高精度的涂層測(cè)厚儀測(cè)量氧化層,，蘭泰儀器涂層測(cè)厚儀就可以測(cè)量氧化層。
兩者是只是根據(jù)材料有細(xì)微區(qū)別,，不過(guò)現(xiàn)在使用者很多不了解,，也相互稱呼。