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晶圓缺陷黃綠光表面檢查燈LUYOR-3325G
點(diǎn)擊次數(shù)：560 發(fā)布時(shí)間：2024-4-22
晶圓檢測：用于晶圓測試的黃綠光LED檢測燈,LUYOR-3325G專為晶圓質(zhì)量保證和測試而設(shè)計(jì)的光學(xué)晶圓檢測設(shè)備。
使用黃綠光檢查燈進(jìn)行晶圓檢測：
使用無紫外線輻射的黃綠光燈進(jìn)行晶圓檢測
更換用于晶圓檢測的紫外燈
在不使用汞蒸氣燈的情況下測試晶圓
設(shè)計(jì)為濾波綠光燈或?yàn)V光黃光燈,，用于晶圓檢測
使用無紫外線和無汞的SECU-CHEK晶圓測試燈進(jìn)行晶圓表面檢測
為什么使用LUYOR-3325G半導(dǎo)體檢測燈進(jìn)行晶圓表面檢測,？
晶圓生產(chǎn)所需的高工藝可靠性
需要經(jīng)濟(jì)高效且無故gu障的測試操作
晶圓測試對于晶圓制備和芯片生產(chǎn)的進(jìn)一步成本密集型步驟至關(guān)重要
根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的專業(yè)解決方案
晶圓生產(chǎn)中存在哪些誤差,，LUYOR-3325G半導(dǎo)體檢測燈的識(shí)別能力如何？
使用過濾后的黃光燈可以很好地檢測到晶圓的缺陷
通過晶圓測試檢測夾雜物
通過目視晶圓測試檢測污染物
用黃綠光觀察生長障礙
在光學(xué)晶圓測試期間識(shí)別面紗
使用LUYOR晶圓檢測燈分析條紋
與用于晶圓測試的紫外燈和汞燈相比，可以更好地檢測微觀結(jié)構(gòu)
通過晶圓檢測檢測生長孔
檢查黃綠色燈的高對比度邊緣變平
在光學(xué)晶圓檢測中可以發(fā)現(xiàn)邊緣干擾
使用晶圓上的質(zhì)量檢測燈檢測結(jié)構(gòu)變化
使用紫外黃光和綠光燈檢測晶圓生產(chǎn)中的夾雜物
用過濾后的黃光燈識(shí)別不均勻
LUYOR-3325G為交流電源供電，可以手持式操作,，也可以臺(tái)式操作。
LUYOR-3325GD為鋰電池供電,，可以手持式操作,，也可以臺(tái)式操作。