顆粒計數(shù)能夠較好地預估磨損情況的嚴重性,，并且很容易檢測出顆粒從小到大的轉變趨勢,。顆粒計數(shù)通常使用以下技術:光阻法,、直接成像或孔阻塞柱塞法等技術,。

1,，關于光阻技術

      光阻技術,，受到重合效應(顆粒重疊)和煙炱顆粒的干擾。因此,，該方法僅適用于分析在污染控制工業(yè)中與機器內部接觸較少的清潔半透明油液

2,，關于直接成像

      直接成像技術，通過使用CCD傳感器處理更大面積上的顆粒來計算重合效應,。樣品通過脈沖激光二極管照射,，可以將稀釋前樣品的光通量提高到約2%，并克服樣品中煙炱顆粒的影響,。

3,，孔阻塞柱塞法

     傳統(tǒng)的孔阻塞裝置類似于光學顆粒計數(shù)器，因為,，其在顆粒物相對低的水平下就會達到量程上限,，所以不適合于精確量化機器中嚴重污染磨損的樣品。然而，它們在處理含有碳煙或水的油液樣品時,，更有優(yōu)勢,，因為這些污染物可以順利通過孔而不增加信號輸出。這是孔堵塞技術優(yōu)于光阻擋和直接成像技術的主要優(yōu)點,。