ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計和制造的,，并符合JB 7770等試驗方法,。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

技術(shù)參數(shù)

ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用,、多用途、多量程的阻抗測試儀器,，測試頻率上限達到目前高的160MHz,。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀采用了多項技術(shù)： 1 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描,、自動調(diào)諧搜索功能。 2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入,。 3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,，數(shù)碼化電容調(diào)諧。 4 自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值,、諧振點頻率和電容的自動測量。 5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容,、電感,、 Q 值、信號源頻率,、諧振指針。 6 DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,，頻率的高精確,、幅度的高穩(wěn)定。 7 計算機自動修正技術(shù)和測試回路化 —使測試回路殘余電感減至zui低,，* Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑,。　　ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀的創(chuàng)新設(shè)計,，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,，它給從事高頻電子設(shè)計的工程師,、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,，測量值更為精確,，測量效率更高,。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì),，無須關(guān)注量程和換算單位,。
	主要技術(shù)特性
Q 值測量范圍	2 ～ 1023 ,，量程分檔： 30 、 100 ,、 300 ,、 1000 ，自動換檔或手動換檔
固有誤差	≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差	≤7％ ± 滿度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ）,， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍	4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍	1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍	18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準確度	120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍	100kHz ～ 160MHz
頻率分段（虛擬）	100 ～ 999.999kHz ,， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ,， 100 ～ 160MHz
頻率指示誤差	3 × 10 -5 ± 1 個字

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