[供應]介電常數(shù)及介質損耗測試儀

貨物所在地：北京北京市
產地：北京市房山區(qū)經濟技術開發(fā)區(qū)顧八路1號
更新時間：2024-11-25 09:47:38
有效期：2024年11月25日 -- 2025年2月25日
已獲點擊：186

產品簡介

ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻,、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的,，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試,。

詳細介紹

_{ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀}

_儀器介紹

_{ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻,、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法,。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試,。}

_{技術參數(shù)}

_{ZJD-C作為一代的通用、多用途,、多量程的阻抗測試儀器,，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 ZJD-C采用了多項技術：} _{1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描,、自動調諧搜索功能,。} _{2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。} _{3 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧,，數(shù)碼化電容調諧,。} _{4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量,。} _{5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容,、電感、 Q 值,、信號源頻率、諧振指針,。} _{6 DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定,。} _{7 計算機自動修正技術和測試回路化 —使測試回路殘余電感減至zui低,，* Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。} _{ZJD-C的創(chuàng)新設計,，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員,、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,，測量值更為精確，測量效率更高,。使用者能在儀器給出的任何頻率,、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位,。}
	_{主要技術特性}
_{Q 值測量范圍}	_{2 ～ 1023 ,，量程分檔： 30 、 100 ,、 300 ,、 1000 ,，自動換檔或手動換檔}
_固有誤差	_{≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）}
_工作誤差	_{≤7％ ± 滿度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ）,， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）}
_{電感測量范圍}	_{4.5nH ～ 140mH}
_{電容直接測量范圍}	_{1 ～ 200pF}
_{主電容調節(jié)范圍}	_{18 ～ 220pF}
_{主電容調節(jié)準確度}	_{120pF 以下 ± 1.2pF ,； 120pF 以上 ± 1 ％}
_{信號源頻率覆蓋范圍}	_{100kHz ～ 160MHz}
_{頻率分段（虛擬）}	_{100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ,， 100 ～ 160MHz}
_{頻率指示誤差}	_{3 × 10 -5 ± 1 個字}

以上信息由企業(yè)自行提供，信息內容的真實性,、準確性和合法性由相關企業(yè)負責,，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風險,，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量,。