[供應]ZJD-C-介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

貨物所在地：北京北京市
產(chǎn)地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號
更新時間：2024-11-25 09:48:58
有效期：2024年11月25日 -- 2025年2月25日
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產(chǎn)品簡介

ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用,、多用途,、多量程的阻抗測試儀器,，測試頻率上限達到目前國內(nèi)Z高的160MHz。

詳細介紹

ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
 一,、概述：
ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用,、多用途、多量程的阻抗測試儀器，介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀測試頻率上限達到目前高的160MHz,。
雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描,、自動調(diào)諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入,。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值,、諧振點頻率和電容的自動測量,。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感,、 Q 值,、信號源頻率、諧振指針,。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,，頻率的高精確,、幅度的高穩(wěn)定,。
計算機自動修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑,。
二,、主要技術(shù)特性：
Q 值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30、100﹑300﹑1000,，自動換檔或手動換檔
固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差:≤ 7 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍: 18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz
頻率分段（虛擬）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個字
三,、夾具工作特性
1.平板電容器：
極片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可選
極片間距可調(diào)范圍： ≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）
4．測微桿分辨率： 0.001mm
四、配置：
主機一臺
電感九支
夾具一套
隨機文件一套

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