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影響表面體積電阻率測(cè)量準(zhǔn)確度的因素和提高測(cè)量準(zhǔn)確度的途徑
閱讀：2964發(fā)布時(shí)間：2022-4-15
1. 影響測(cè)量準(zhǔn)確度的因素和提高測(cè)量準(zhǔn)確度的途徑
1.1.氣候條件的影響和確定
※同樣的材料在不同的溫度,、濕度下測(cè)得的結(jié)果也是不相同的,。
※因此必須在規(guī)定的溫度和濕度條件下進(jìn)行測(cè) 試。
※如果偏離此條件,，必須進(jìn)行校正,。
正常化處理（預(yù)處理）
定義：是為了消除試樣在試驗(yàn)前條件與測(cè)試條件不一致而造成性能的差異,，而對(duì)試樣進(jìn)行預(yù)處理的過(guò)程,。
條件處理
※條件處理，為了考核材料能夠耐受溫度,、濕度等各種因素影響的程度,，或者測(cè)定材料在特定條件下的某種性能和變化規(guī)律，在試驗(yàn)前,，將試樣置于規(guī)定溫度和濕度的大氣中或*浸泡在水（或其它液體）中,，放置規(guī)定時(shí)間的處理。
※我國(guó)規(guī)定的常態(tài)實(shí)驗(yàn)：溫度為20±5℃ ,，相對(duì)濕度為65±5%
2.2.工作條件—電壓,、時(shí)間的影響和確定 穩(wěn)定電流
※加電壓后,，試樣中存在傳導(dǎo)電流、充電電流（干 擾） ,、吸收電流（干擾）,。
※充電電流在閉合電源后的很短時(shí)間就降為零。
※吸收電流與待測(cè)絕緣介質(zhì)材料特性有關(guān),，且隨時(shí)間逐漸減小,，最后接近于零。
※作電流時(shí)間曲線,，在電流穩(wěn)定后再測(cè)量,。
※實(shí)際中，一般材料在加電1分鐘左右,，電流趨于穩(wěn)定,。
※通常規(guī)定，加電壓1分鐘后,，再進(jìn)行測(cè)量,。
試驗(yàn)電壓
※對(duì)于完整的理想絕緣介質(zhì)材料，試驗(yàn)電壓的大小與其絕緣電阻值無(wú)關(guān),。
※實(shí)際材料總不可避免的存在雜質(zhì)和缺陷,，使所測(cè)得的絕緣電阻值隨所加電壓的增加而降低。
※所以,，對(duì)于每種材料都要規(guī)定測(cè)試電壓的大小,。
殘余電荷與靜電
※由于電解質(zhì)的極化特性，在直流電場(chǎng)中介質(zhì)與電極的分界面上將積聚有極化電荷,，而在電極上相應(yīng)地增加了自由電荷,。
※當(dāng)外電場(chǎng)去除后，極化電荷逐漸消失,，電極上的電荷隨極化電荷的消失而緩慢減少,。
※實(shí)例：若試樣先測(cè)體積電阻后立刻測(cè)表面電阻時(shí)，由于極化電荷的影響,，可能使測(cè)得的表面電阻偏大,，甚至高阻計(jì)指針?lè)雌?/span>
※絕緣介質(zhì)材料在制造、加工和測(cè)試等過(guò)程中還可能產(chǎn)生靜電,，影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。
※因此,，在測(cè)量時(shí)為消除極化電荷和靜電的影響,，試樣要*放電。
2. 影響測(cè)量準(zhǔn)確度的因素和提高測(cè)量準(zhǔn)確度的途徑
2.3. 環(huán)境條件—漏電流及外來(lái)干擾電勢(shì)
▲外來(lái)電勢(shì)按來(lái)源和性質(zhì)可分為：外界強(qiáng)電場(chǎng)的干擾,、接觸電勢(shì),、熱電勢(shì),、電解電勢(shì)。
▲測(cè)量前應(yīng)首先檢查有無(wú)外來(lái)電勢(shì)的影響,。
檢查有無(wú)外來(lái)電勢(shì)的一般方法
▲觀察試樣在施加電壓前以及去除電壓后指示 器有無(wú)偏轉(zhuǎn)來(lái)確定,。
▲如有偏轉(zhuǎn)，說(shuō)明存在外來(lái)電勢(shì)的影響,。
▲當(dāng)偏轉(zhuǎn)不大,，可改變施加電源電壓極性（正、 反向）,，測(cè)量?jī)纱稳∑骄怠?nbsp;
▲若外來(lái)干擾電勢(shì)很大,，須找出其原因，并設(shè)法消除,。
2.3. 環(huán)境條件外界強(qiáng)電場(chǎng)的干擾
在超高阻測(cè)量時(shí)的影響比較顯著,。
原理：通過(guò)雜散電磁耦合或者靜電感應(yīng)方式， 在測(cè)量回路中產(chǎn)生附加雜散電流,，影響測(cè)量準(zhǔn)確度,。
例子：比如用“高阻計(jì)法"測(cè)電阻，本來(lái)電 流就很小,，再經(jīng)放大,，附加電流的影響就很大了。
對(duì)策：在測(cè)量回路對(duì)外電場(chǎng)感應(yīng)敏感的地方,， 如測(cè)量電極引線,、分流器及檢流計(jì)等都應(yīng)有
接觸電勢(shì)和熱電勢(shì)
接觸電勢(shì)：產(chǎn)生在元件連接處以及不同金屬接觸處（如測(cè)量端的短路開(kāi)關(guān)），由于逸出功不同而產(chǎn)生接觸電勢(shì),。
熱電勢(shì)：在溫度很高時(shí),，由于熱的不均勻性，在檢流計(jì),、分流器等低阻回路中,，將產(chǎn)生熱電勢(shì)（或溫差電勢(shì)）造成檢流計(jì)零點(diǎn)漂移。
▲通常熱電勢(shì)很小,，接觸電勢(shì)可以通過(guò)改善接頭來(lái)消除,。
電解電勢(shì)
▲在潮濕環(huán)境下或試樣表面不清潔場(chǎng)合下，由于直流電場(chǎng)電解作用將在測(cè)量電極和保護(hù)電極之間產(chǎn)生,，它可能達(dá)到較大的數(shù)值,。
對(duì)策：使試樣表面保持清潔，并置于干燥大氣中來(lái)減弱這種影響,。
漏電流
▲測(cè)量線路的漏電流主要是各元件,、開(kāi)關(guān)、電極支架和檢流計(jì)接線的絕緣電阻不高而形成分路作用，這些漏電流流經(jīng)檢流計(jì)將造成測(cè)量誤差,。
▲I1表示通過(guò)測(cè)量回路處于高壓端各元件到測(cè)量端的漏電流,；I2表示從測(cè)量端到接地端的漏電流。
▲漏電流I1存在,，將使測(cè)得試樣的電阻值偏?。欢鳬2存在,，將使得測(cè)量電阻值偏大,。
▲要減小I1，則必須提高R1,，即提高高壓端各絕緣支撐的絕緣電阻,。但是，這受到限制,，特別是測(cè)量高絕緣電阻的試樣很難滿足,。
高絕緣電阻測(cè)試時(shí)抑制漏電流的措施
保護(hù)技術(shù)的原理：
▲只有通過(guò)檢流計(jì)的漏電流才能影響測(cè)量結(jié)果。
▲將產(chǎn)生漏電流I1的所有高壓部分的 元件放在具有金屬夾層的雙層絕緣體上,，金屬夾層接地,。
在絕緣電阻測(cè)試中，必須檢查有無(wú)漏電流存在,。
檢查方法：
▲斷開(kāi)試樣測(cè)量端與分流器的連線,，加上電源，合上所有開(kāi)關(guān),，逐步增大檢流計(jì)靈敏度,，視指示器有無(wú)偏置；
▲如有偏轉(zhuǎn),，說(shuō)明有漏電流通過(guò)指示儀器,，必須找出原因并加以消除；
▲檢流計(jì)無(wú)偏轉(zhuǎn)時(shí)才能進(jìn)行正式測(cè)量,。
絕緣材料絕緣電阻的測(cè)量方法
標(biāo)準(zhǔn)的演變：
GB/1410-2006（2006-06-01——至今）固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法
GB/1410-1989（1990-01-01——2006-06-01）固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法
GB/1410-78（更早）固體電工絕緣材料絕緣電阻,、體積電阻系數(shù)和表面電阻系數(shù)試驗(yàn)方法
標(biāo)準(zhǔn)截圖
關(guān)鍵詞：體積電阻率測(cè)量 表面電阻率測(cè)量 電阻率測(cè)量?jī)x
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