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關(guān)于GBT1693介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀的詳細介紹
閱讀：7356發(fā)布時間：2018-8-22
機臺型號：ZJD-B ZJD-C QS37
ZJD-C型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
一,、概述：
ZJD-C型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途,、多量程的阻抗測試儀器,，測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz.ZJD-C介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀采用了多項技術(shù)。
雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描,、自動調(diào)諧搜索功能,。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,，數(shù)碼化電容調(diào)諧,。
自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量,。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容,、電感、 Q 值,、信號源頻率,、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,，頻率的高,、幅度的高穩(wěn)定,。
計算機自動修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑,。
二,、主要技術(shù)特性：
*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 100KHZ-160MHZ
*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
3．Q值測量范圍：1～1023
4．Q值量程分檔：30、100,、300,、1000、自動換檔或手動換檔,；
*5．電感測量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能
*6．電容直接測量范圍：1pF～25nF
7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF
8．準確度 150pF以下±1pF,；150pF以上±1%
9．信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz
10．合格指示預(yù)置功能范圍：5～1000
11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：約25W,；電源：220V±22V,，50Hz±2.5Hz。
13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
數(shù)顯式微桿,，平板電容器：
極片尺寸： 38mm
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
測微桿分辨率：0.001mm
測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm
*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm,； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1：
分別有0.05μH,、0.1μH,、0.5μH、2.5μH,、10μH,、50μH、100μH,、1mH,、5mH、10mH十個電感組成,。
三,、配置：
主機 一臺
電感 九支
夾具 一套
液體杯 一套
隨機文件一套
ZJD-C型硫化橡膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀相關(guān)標準
硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角
正切值的測定方法
警告：使用本標準的人員應(yīng)有正規(guī)實驗室工作的實踐經(jīng)驗。本標準并未指出所有可能的安全問題,。使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧?，并保證符合國家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件。
1,、范圍：
本標準規(guī)定了介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的兩種測定方法,。方法A為工頻（50Hz）下的測定方法，方法B為高頻電場下的測定方法,。
本標準適用于硫化橡膠,。
2、規(guī)范性引用文件：
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標準,，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本,。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本標準,。
GB/T 2941 橡膠物理試驗方法試樣制備和調(diào)節(jié)通用程序（GB/T 2941-2006,，ISO 23529：2004，IDT）
3,、術(shù)語和定義：
下列術(shù)語和定義適用于本標準,。
3.1
介質(zhì)損耗 dielectric loss
絕緣材料在電場作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),，在其內(nèi)部引起的能量損耗,。
3.2
損耗角 δloss angleδ
在交變電場下，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流向量和電壓向量之間的夾角（功率因數(shù)角φ）的余角（δ）,。
3.3
損耗角正切 tanδ loss tangentδ
介質(zhì)損耗因數(shù) dielectric loss factor
介質(zhì)損耗角正切值,。
3.4
介電常數(shù) εdielectric constant
絕緣材料在電場作用下產(chǎn)生極化，電容器極板間有電介質(zhì)存在時的電容量C,、與同樣形狀和尺寸的真空電容量C0之比,。
注：不同試樣、不同電極的真空電容和邊緣校正的計算參見附錄A,。
4,、測試電極：
4.1 電極材料
見表1。
表 1 電極材料
電極材料 | 規(guī)格要求 | 適應(yīng)范圍 |
鋁箔和錫箔 | 鋁箔和錫箔應(yīng)退火,，厚度為0.01mm左右,，用凡士林、變壓器油,、硅油或其他合適油作為粘接劑 | 接觸電極用 |
導(dǎo)電橡膠 | 體積電阻系數(shù)不大于300Ω·cm（交流）,，邵爾A硬度為40～60，表面應(yīng)光滑 | 接觸電極用 |
銅 | 表面可鍍防腐蝕的金屬層,，但鍍層應(yīng)均勻一致,，工作面粗糙度Ra值應(yīng)不低于3.2 | 一般做輔助電極用，對軟質(zhì)膠可直接作接觸電極用 |
導(dǎo)電粉末 | 石墨粉,，銀粉,，銅粉等 | 管狀試樣內(nèi)電極用 |
4.2 電極尺寸
4.2.1 板狀試樣電極
4.2.1.1 方法A：板狀電極尺寸見表2，電極如圖1所示,。
表 2 板狀試樣電極尺寸 單位為毫米
D1 | D2 | D3 | D4 | H1 | H2 |
25.0±0.1 | 29.0±0.1 | 40 | ≥40 | 30 | 5 |
50.0±0.1 | 54.0±0.1 | 74 | ≥74 |
1——測量電極,；
2——保護電源；
3——試樣；
4——高壓電極,。
圖 1 板狀試樣電極配置（工頻）
4.2.1.2 方法B：采用二電極系統(tǒng),。電極尺寸大小與試樣尺寸相等，或電極小于試樣尺寸,。板狀試樣電極直徑為φ38.0mm±0.1mm,、φ50.0mm±0.1mm、φ70.0mm±0.1mm,。
4.2.2 管狀試樣電極
4.2.2.1 方法A：管狀試樣電極尺寸見表3,，電極如圖2所示。
表 3 管狀試樣電極尺寸
L1 | L2 | L3 | g |
25 | 5 | ≥40 | 2.0±0.1 |
50 | 10 | ≥74 |
1——保護電極,；
2——測量電極,；
3——高壓電極,；
4——試樣,。
圖 2 管狀試樣電極配置（工頻）
4.2.2.2 方法B：管狀試樣電極尺寸，電極如圖3所示,。
管狀試樣的電極長度為50.0mm±0.1mm或70.0mm±0.1mm,。
1——試樣,；
2——上電極；
3——下電極,。
圖 3 管狀試樣電極配置（高頻）
4.3 電極裝置
在進行高頻測試時,，根據(jù)測試頻率與測試要求可用支架電極（如圖4），當(dāng)頻率大于或等于1MHz且小于10MHz時,，宜用測微電極（如圖5）,；當(dāng)頻率大于或等于10MHz時，應(yīng)用測微電極,。
1——上蓋螺釘,；
2——上蓋板；
3——升降螺桿,；
4——上電極導(dǎo)軌,；
5——螺帽；
6——導(dǎo)筒,；
7——導(dǎo)槽螺釘,；
8——絕緣桿；
9——高壓電極,；
10——試樣,；
11——測量電極；
12——保護電極,；
13——絕緣板（聚四氟乙烯板）,；
14——絕緣支腳,；
15——有機玻璃板。
圖 4 支架電極
1——微調(diào)管形電容器,；
2——測試樣品電容器,；
3——上支撐板；
4——上電極,；
5——試樣,；
6——下電極；
7——底板,。
圖 5 測微電極
5,、測試儀器：
5.1 方法A
5.1.1 測試儀器為工頻高壓電橋，其原理圖如圖6所示,。
T 試驗變壓器；
C3 標準電容器,；
C5 試樣,；
R3 可變電阻；
C2,、C4 可變電容,；
R4 固定電阻；
G- 電橋平衡指示器,；
P 放電器,。
圖 6 工頻高壓電橋原理圖
5.1.2 測量范圍
損耗角正切（tanδ）：0.001～1；電容（C）：40pF～2000pF,。
5.1.3 電橋測量誤差
測量時誤差不超過10%,，當(dāng)試樣tanδ小于0.001時測量誤差不超過0.0001，電容的測量誤差不超過5%,，標準電容器的tanδ應(yīng)小于0.0001,。
5.1.4 電橋必須有良好的屏蔽接地裝置。
5.2 方法B
5.2.1 方法B的測試儀器有兩種：一種是諧振升高法（Q表）,，另一種時變電鈉法,。
5.2.1.1 諧振升高法（Q表）
其測試原理圖如圖7所示。
A 電流表,；
R0 耦合電阻,；
L 輔助線圈；
C 標準電容,；
C0 試樣,；
V、V1 電壓表（用Q值表示）,。
圖 7 Q表原理圖
5.2.1.1.1 測量范圍
頻率為50Hz～50MHz,，電容40pF～500pF，Q值10～600。
5.2.1.1.2 測量誤差
電容誤差：±（0.5%C+0.1pF）,，Q值±10%,；有關(guān)儀器的測量誤差均為±10%。
5.2.1.2 變電鈉法
其測試原理如圖8所示,。
C——可調(diào)電容,；
L——諧振線圈；
CT——管形微調(diào)電容,；
Cu——主電容,；
Cx——試樣。
圖 8 高頻介質(zhì)損耗儀原理圖
6,、試樣：
6.1 試樣尺寸
6.1.1 方法A試樣尺寸見表4,。
表 4 試樣尺寸 單位為毫米
試樣 | 尺寸 | 厚度 |
板狀 | 圓形：φ100 正方形：邊長100 | 軟質(zhì)橡膠1.0±0.1 硬質(zhì)橡膠2.0±0.2 |
管狀 | 管長100 |
6.1.2 方法B試樣尺寸見表5。
表 5 試樣尺寸 單位為毫米
試樣 | 尺寸 | 厚度 |
板狀 | 圓形：φ38 正方形：邊長100 | 軟質(zhì)橡膠1.0±0.1 硬質(zhì)橡膠2.0±0.2 |
管狀 | 管長50 |
,，φ50
,、φ100
，管長70
6.2 試樣的制備
試樣的制備應(yīng)符合GB/T 2941的規(guī)定,，也可以在符合試樣厚度尺寸的膠板上用旋轉(zhuǎn)刀進行裁切,，制樣方法的不同，其試驗結(jié)果無可比性,。
6.3 試樣數(shù)量
試樣的數(shù)量不少于3個,。
7、硫化與試驗之間的時間間隔：
試樣在硫化與試驗之間的時間間隔按GB/T2941的規(guī)定執(zhí)行,。
8,、試驗條件：
8.1 試樣表面應(yīng)清潔、平滑,，無裂紋,、氣泡和雜質(zhì)等，試樣表面應(yīng)用蘸有無水乙醇的布擦洗,。
8.2 試樣應(yīng)在標準實驗室溫度及濕度下至少調(diào)節(jié)24h,。
8.3當(dāng)試樣處理有特殊要求時，可按其產(chǎn)品標準規(guī)定的進行,。
9,、試驗步驟：
9.1 方法A
9.1.1 試驗電壓為1000V～3000V，一般情況下為1000V,，電源頻率為50Hz,。
9.1.2 按設(shè)備說明書正確的連接。
9.1.3 接通電源預(yù)熱30min,。
9.1.4 將試樣接人電橋C,、的橋臂中,，加上試驗電壓，根據(jù)電橋使用方法進行平衡,，讀取R3和tanδ或C4的值,。
9.2 方法B—諧振升高法（Q表法）
9.2.1 按照Q表的操作規(guī)程調(diào)整儀器，選定測量頻率,，測定C1和Q1的值,。
9.2.2 將試樣放入測試電極中，并調(diào)節(jié)電容器C,，使電路諧振,，達到大Q值記下調(diào)諧電容量C2和Q2的值。
9.2.3 將試樣從測試電極中取出,，調(diào)節(jié)C或測試電極的距離,，使電路重新諧振，記下C,、或測試電極的校正電容值與Q值,，并根據(jù)測試值計算出損耗角tanδ與介電常數(shù)ε。
9.2.4 其他高頻測試儀器按其說明書進行操作,，通過測試值計算出損耗角tanδ和介電常數(shù)ε。
10,、試驗結(jié)果：
10.1 方法A
10.1.1 介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）可在電橋上直接讀數(shù),，按式（1）進行計算：
tanδ=2πfR4C4×10-6…………………………（1）
式中：
π——3.14；
f——頻率50Hz,；
R4——固定電阻阻值,，單位為歐姆（Ω）；
C4——可變電容值,，單位為微法（μF）,；
10.1.2 介電常數(shù)（ε）的計算見表6。
表 6 介電常數(shù)的計算
tanδ | 板狀試樣 | 管狀試樣 |
≤0.1 |
|
|
>0.1 |
|
|
式中： d 試樣厚度,，單位為厘米（cm）,； CR 標準電容器電容量，單位為皮法（pF）,， R4 固定電阻阻值,，單位為歐姆（Ω）； R3 可變電阻阻值,，單位為歐姆（Ω）,； S 電極有效面積單位為平方厘米（cm2）；
L1 管狀試樣測量電極長度,，單位為厘米（cm）,； D 測量電極有效直徑,，單位為厘米（cm）； DB 管外徑,，單位為厘米（cm）,； DA 管內(nèi)徑，單位為厘米（cm）,； g 測量電極與環(huán)電極間距,，單位為厘米（cm）； ln 自然對效,； π 3.14,。
| ||
…………（2）
…………（3）
…………（4）
…………（5）
……………………………（6）
10.2 方法B
10.2.1 電容的計算
10.2.1.1 諧振升高法
應(yīng)用支架電極時按式（7）計算：
Cx=C1-C2+Ca…………………………………（7）
應(yīng)用測微電極時按式（8）計算：
Cx=C’1-C’2+Ca……………………………（8）
10.2.1.2 變電納法（配用測微電極）：
按式（9）、式（10）計算：
Cx=C1-C2+Ca…………………………………（9）
其中：Ca= 
…………………………（10）
當(dāng)電極直徑為38mm時,，則Ca=1/d
式中：
Cx——試樣的并聯(lián)等值電容,，單位為皮法（pF）；
C1——電極間距為試樣厚度d,，且無試樣時諧振電容量,，單位為皮法（pF）；
C2——有試樣時諧振電容量,，單位為皮法（pF）,；
C'1——極的校正電容值，單位為皮法（pF）,；
C'——有試樣時,，測微電極間距等于試樣厚度時，測微電極的校正電容值,，單位為皮法（pF）,；
C——試樣的幾何電容量，單位為皮法（pF）,；
S——電極面積單位為平方厘米（cm2）,；
d——試樣厚度，單位為厘米（cm）,。
10.2.2 介電常數(shù)ε的計算
按式（11）計算：
………………………（11）
式中：
Cx——試樣的并聯(lián)等值電容,，單位為皮法（pF）；
d——試樣的厚度,，單位為厘米（cm）,；
D——電極的直徑，單位為厘米（cm）,。
10.2.3介質(zhì)損耗角正切tanδ值的計算
10.2.3.1諧振升高法（Q表法）按式（12）計算：
……………………（12）
10.2.3.2 變電納法：各種高頻損耗測試儀配用測微電極使用時按式（I3）計算：
………………………（13）
式中：
C’——無電極時,，諧振回路標準電容器指示值單位為皮法（pF）；
Q1——無試樣時,，電極間距為d時,，諧振Q值,；
Q2——電極間有試樣時的諧振Q值；
△Ci—有試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時,，微調(diào)電容變化量,，單位為皮法（pF）；
△C0——無試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時,，微調(diào)電容變化量,，單位為皮法（pF）；
Cx——試樣的并聯(lián)等值電容,，單位為皮法（pF）,。
10.2.4 管狀試樣測試結(jié)果計算
10.2.4.1 試樣電容量按式（14）計算：
Cx=C1-C2…………………………（14）
式中：
C1——無試樣時，諧振電容量,；
C2——有試樣時,，諧振電容量。
10.2.4.2試樣介電常數(shù)按式（15）式（16）計算：
…………………………（15）
其中：
…………………（16）
式中：
L——電極長度,，單位為厘米（cm）,；
D1、D2——管外徑和內(nèi)徑,，單位為厘米（cm）,。
10.2.4.3 損耗角正切值的計算
與Q表接線柱直接連線時按式（17）計算：
………………………（17）
當(dāng)高頻介質(zhì)損耗角測試儀與測微電極連接時按式（l8）計算：
………………………（18）
式中：
C1、Q1——無試樣時,，諧振電容量及Q值,；
C2、Q2——有試樣時,，諧振電容量及Q值,；
△Ci——有試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時,，微調(diào)電容變化量,，單位為皮法（pF）；
△C0——無試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時,，微調(diào)電容變化量,，單位為皮法（pF）。
注：不同試驗環(huán)境對試驗結(jié)果的影響因素參見附錄B,。
10.3 試驗結(jié)果以每組試驗結(jié)果的中位數(shù)表示,，取兩位有效數(shù)字。
11,、介電常數(shù)測試儀試驗報告：
介電常數(shù)測試儀試驗報告應(yīng)包括以下內(nèi)容：
a） 介電常數(shù)測試儀試樣編號,；
b） 本標準編號或本標準名稱；
c） 介電常數(shù)測試儀試驗結(jié)果
d） 實驗室溫度,、濕度,；
e） 介電常數(shù)測試儀試樣的規(guī)格,；
f） 測元件及電極尺寸；
g） 試樣和測試條件的調(diào)節(jié),；
h） 介電常數(shù)測試儀測量方法和測量電路,；
i） 介電常數(shù)測試儀試驗電壓及頻率；
j） 試驗者,；
k） 試驗日期,。
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