Thermo Scientific™ Themis™ 基于FEI的Titan/TEM平臺(tái)——2005年推出——Themis TEM家族形成了下一代的世界上大的,，商業(yè)上可用的材料科學(xué)解決方案，與Themis Z和Themis ETEM,。這是開始與我們革命性的寬高張力范圍和校正準(zhǔn)備平臺(tái),，加上寬極片間隙提供空間做更多?；诜€(wěn)定性和靈活性的發(fā)展,，Themis是高性能的，能夠不斷地發(fā)現(xiàn)和探索原子尺度,。

這些經(jīng)過驗(yàn)證的光學(xué)與新的突破性掃描透射電子顯微鏡（STEM）成像能力和增強(qiáng)的自動(dòng)化軟件相結(jié)合,，使所有材料科學(xué)家都能獲得終的成像和分析性能。FEI的像差校正Themis Z掃描透射電子顯微鏡（STEM）結(jié)合了經(jīng)過驗(yàn)證的光學(xué)和新的突破性的STEM成像能力和增強(qiáng)的自動(dòng)化軟件,，使終的成像性能掌握在所有材料科學(xué)家的手中,。與我們*的EDX投資組合的西米斯Z提供了所有全面的原子表征數(shù)據(jù)在一個(gè)單一的工具，單一的物鏡配置,。ETEM是我們專門為觀察功能納米材料及其對氣體和溫度刺激的時(shí)間分辨響應(yīng)而設(shè)計(jì)的環(huán)境瞬變電磁平臺(tái),。通過*的差分泵浦物鏡，樣品區(qū)成為研究催化劑顆粒,、納米器件和其他材料的實(shí)驗(yàn)室,，使原子尺度能夠觀察表面和界面的形貌和相互作用。當(dāng)需要時(shí),，泰坦ETEM可以作為原子尺度成像的標(biāo)S/TEM,。

 

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 專為觀察功能納米材料及其對氣體和溫度刺激的及時(shí)響應(yīng)而設(shè)計(jì)。

• 試樣區(qū)域具有*的微分泵目標(biāo)透鏡,，成為研究催化劑顆粒,、納米器件和其他材料的實(shí)驗(yàn)室，使原子尺度能夠洞察表面和界面的形態(tài)和相互作用,。

• 化學(xué)成分和粘合狀態(tài)研究,。

• 3d 化學(xué)映射。

• s/tem斷層掃描,。

• 磁場和電場測量,。

• 動(dòng)態(tài)研究。

• 原位氣體-固體相互作用實(shí)驗(yàn),。

 

參數(shù) 

型號： Themis 200
	能量分散	點(diǎn)分辨率	信息限制	STEM分辨率
圖像校正器	0.8 eV	90pm	90pm	160pm
探針校正器	0.8 eV	240pm	110pm	80pm
無校正	0.8 eV	240pm	110pm	160pm
	X-FEG		注 ：所有規(guī)格都是 200 kV 電壓下的數(shù)據(jù) 如需其他加速電壓下的規(guī)格列表,，請聯(lián)系銷售代表
型號：Themis 300
	能量分散	點(diǎn)分辨率	信息限制	STEM分辨率
圖像校正器	0.7 至 0.8 eV	80pm	80pm	136pm
探針校正器	0.7 至 0.8 eV	200pm	100pm	80pm
單色儀 + X-FEG	0.2 至 0.3 eV	200pm	80pm	136pm
型號：Themis ³ 300
	能量分散	點(diǎn)分辨率	信息限制	STEM分辨率
圖像校正器	0.7 至 0.8 eV	80pm	80pm	136pm
探針校正器	0.7 至 0.8 eV	200pm	100pm	70pm
單色儀/X-FEG 圖像 + 探針校正器	0.2 至 0.3 eV	80pm	70pm	70pm
圖像 + 探針校正器	0.7 至 0.8 eV	80pm	80pm	70pm
* 取決于能量過濾器選件	S-FEG 0.7 eV、  X-FEG 0.8 eV		注 ：所有規(guī)格都是 300 kV電壓下的數(shù)據(jù) 如需其他加速電壓下的規(guī)格列表，請聯(lián)系銷售代表

 

• 可選超穩(wěn)定,、高亮度肖特基場發(fā)射電子槍（X-FEG,，更多詳情請參見單獨(dú)的產(chǎn)品數(shù)據(jù)表）。 

• 全新三透鏡聚光器系統(tǒng)可量化指示照明區(qū)域會(huì)聚角和大小,，從而量化衡量電子劑量和照明條件,。

• 靈活的高電壓范圍,Titan Themis 300和Titan Themis³300 ：60至300kV（60、80,、120,、200、300kV）, Titan Themis 200 ：80至200kV（80,、120,、200kV）。

• 電子槍單色儀可實(shí)現(xiàn)高能量分辨率EELS以及更高的空間分辨率,，尤其在低 kV HR-S/TEM下,。 

• STEM和TEM ：Titan Themis 300和Titan3 Themis 300 ：在 STEM和TEM中可達(dá)70pm 性能 ；Titan Themis 200 ：在 TEM 中具有90pm 性能,，在 STEM中具有80pm性能,。

• 使用環(huán)境罩時(shí)，Titan3 Themis的室內(nèi)聲音和溫度變化要求可以放寬,。

• 擁有模塊化鏡筒設(shè)計(jì)可以為鏡筒中的低勵(lì)磁偏轉(zhuǎn)器打造精確的機(jī)械疊層系統(tǒng),，大限度降低由電子 噪聲帶來的不穩(wěn)定性。

• 在模式切換過程中ConstantPower™透鏡設(shè)計(jì)具有熱穩(wěn)定性,。 

• 低磁滯設(shè)計(jì)可大限度減小光學(xué)組件間的串音,，實(shí)現(xiàn)可再現(xiàn)性。 

• Ruska-Rieke S-Twin 對稱物鏡,，5.4 mm寬極片間距設(shè)計(jì)以及可以使用加熱,、冷卻和STM/AFM 支架等特殊支 架的“多用途空間”。 

• 物鏡背部焦平面中的物鏡孔隙非常適合開展TEM 暗場應(yīng)用工作,現(xiàn)場可升級,加裝探針Cs校正器,。

• 自動(dòng)孔隙支持遠(yuǎn)程控制操作,，而且改變孔隙期間可調(diào)用孔隙位置，具有可再現(xiàn)性,。

• 無旋轉(zhuǎn)成像,，讓操作更輕松，并能清晰呈現(xiàn)圖像與衍射平面之間的方位關(guān)系,。 

• 用計(jì)算機(jī)控制的全新5軸樣品壓電載物臺(tái)，支持精確調(diào)用存儲(chǔ)位置,，在搜索目標(biāo)區(qū)域時(shí)跟蹤訪問過的區(qū)域,，并具有超穩(wěn)定、深亞埃分辨率以及低樣品漂移,。

• 全新壓電載物臺(tái)可實(shí)現(xiàn)精確到20pm的移動(dòng),，以便將目標(biāo)觀測特征置于視場中央,。

• 壓電載物臺(tái)提供的線性漂移補(bǔ)償功能可用于減輕熱漂移造成的限制，因?yàn)樵谠患訜峄蚶鋮s實(shí)驗(yàn)中熱漂移不可避免,。 

• 分析用雙傾斜樣品架具有±40度的傾斜范圍,，支持觀測多晶材料中某個(gè)晶體的多個(gè)晶帶軸。傾斜范圍高達(dá)±75度的立體成像樣品架,，可大限度減少三維重構(gòu)中的圖塊缺失,。

• 全新冷阱設(shè)計(jì)，多可使用一周,，從而大限度提高正常運(yùn)行時(shí)間,。

產(chǎn)品料號	產(chǎn)品貨號	*產(chǎn)品名稱	*產(chǎn)品規(guī)格
TFE000054	TFE000054	Themis透射電鏡	Themis 200
TFE000055	TFE000055	Themis透射電鏡	Themis 300
TFE000056	TFE000056	Themis透射電鏡	Themis ³ 300