詳細(xì)介紹
與EDS共面的電子背散射衍射(EBSD)以及波長色散X射線光譜儀(WDS),。Quattro ESEM支持可選的高真空加熱臺(tái),,AutoScript,基于Python的腳本工具和新的RGB陰極發(fā)光(CL)檢測器,。RGB CL檢測器產(chǎn)生彩色圖像,,突出顯示常規(guī)電子或X射線成像技術(shù)無法看到的樣品特性。高真空加熱臺(tái)可在高溫下觀察干凈的樣品,。借助AutoScript,,用戶可以對(duì)成像和舞臺(tái)移動(dòng)進(jìn)行編程,以進(jìn)行無人值守的數(shù)據(jù)采集,。
產(chǎn)品特點(diǎn)
· 同時(shí)包含基座和比色皿檢測模塊,,以擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)靈活性和擴(kuò)大動(dòng)態(tài)范圍。
· 測量稀釋樣品,,執(zhí)行動(dòng)力學(xué)實(shí)驗(yàn)并獲取細(xì)菌培養(yǎng)物的光密度測量結(jié)果,。
· 比色皿檢測模塊包括溫度控制和攪拌區(qū)域。
· 在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品,, 同步獲取二次電子像和背散射電子像,。
· 安裝原位冷臺(tái)、珀?duì)柼渑_(tái)和熱臺(tái),,可在-165℃ 到1400℃ 溫度范圍內(nèi)進(jìn)行原位分析,。
· 分析性能,樣品倉可同時(shí)安裝三個(gè)EDS探測器,,其中兩個(gè)EDS端口分開180°,、WDS和共面EDS/EBSD。
· 針對(duì)不導(dǎo)電樣品的分析性能:憑借“壓差真空系統(tǒng)”實(shí)現(xiàn)低真空模式下的精確 EDS 和 EBSD分析,。
· 靈活,、精確的優(yōu)中心樣品臺(tái),105°傾斜角度范圍,,可觀察樣品,。
· 軟件直觀、簡便易用,,并配置用戶向?qū)Ъ?nbsp;Undo(撤銷)功能,,操作步驟更少,分析更快速
· 全新創(chuàng)新選項(xiàng),,包括可伸縮RGB陰極熒光(CL)探測器,、1100℃高真空熱臺(tái)和AutoScript(基于Python的腳本工具API)
參數(shù)
電子束
· 束流范圍:1 Pa~200 na
· 加速電壓范圍:200 V-30 kV
· 著陸能量范圍:20 eV~30 kev,,可選光束減速
· 放大倍數(shù):6~2500000×
· 內(nèi)部寬度:340 mm
· 分析工作距離:10 mm
· 端口:12
· EDS起落角:35°
· 3個(gè)同步的EDS探測器,兩個(gè)在180°
· 高真空成像
–0.8納米@30千伏(STEM)
–1.0 nm@30Kv(東南)
–2.5納米@30千伏(瘋牛?。?/p>
–3.0 nm@1Kv(東南)
光束減速的高真空成像
–3.0 nm@1Kv(BD模式*+BSED*)
–2.1 nm@1Kv(BD模式*+ICD*)
–3.1nm@200 V(BD模式*+ICD*)
· 低真空成像
–1.3 nm@30 kV(SE)-2.5 nm@30 kV(SE)-3.0 nm@3 kV(SE)
· ESEM
–1.3 nm@30 kV(SE)
探測器
Quattro同時(shí)檢測來自現(xiàn)有探測器或探測器段的任意組合的四個(gè)信號(hào):
· ETD-Everhart-Thornley SE探測器·低真空SE檢測器(LVD)
· 氣態(tài)SED(用于ESEM模式)
· 紅外攝像機(jī),,用于在室內(nèi)
· Nav-CaM中觀察樣品:用于樣品導(dǎo)航的室內(nèi)彩色光學(xué)相機(jī)
· DBS-可回收或安裝在-thelens定向背向散射探測器下的鏡頭
· DBS-GAD-透鏡式氣體分析檢測器
· STEM 3+-可伸縮分段(BF,4 df,,6 hdf)掃描透射探測器
· 濕STEM-Peltier級(jí)集成STEM用于觀察薄濕樣品
· RGB-CLD-真彩色CL探測器
· 柱內(nèi)檢測器(ICD),,用于束流減速模式*DNA 和RNA (260 nm)
真空系統(tǒng)
· 1×250升/秒
· 1輛PVP2×IGP
· 集成的IGP電池備份(系統(tǒng)保護(hù)從非計(jì)劃停電)
· 通過透鏡差動(dòng)泵浦
· 光束氣體路徑長度:10毫米或2毫米
· 疏散時(shí)間:≤5分鐘到高真空和≤5分鐘
分鐘到ESEM
· 可選擇的CryoCleaner冷阱
· 可選升級(jí)為無油滾動(dòng)/干式PVPs
產(chǎn)品料號(hào) | 產(chǎn)品貨號(hào) | *產(chǎn)品名稱 | *產(chǎn)品規(guī)格 |
TFE000051 | TFE000051 | QuattroESEM環(huán)境掃描電鏡 | QuattroESEM |