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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
一、三箱式冷熱沖擊試驗箱特點名詞解析
三箱式冷熱沖擊試驗箱適用于電子電器零組件,、自動化零部件,、通訊組件、汽車配件,、金屬,、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),，國防工業(yè),、航天、兵工業(yè),、BGA基扳,、電子芯片、IC半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高,、低溫的反復(fù)熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密IC到重機(jī)械的組件,，無一不需要它，是理想測試工具.冷熱沖擊試驗機(jī),，用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考,。
二、三箱式冷熱沖擊試驗箱特點型號與技術(shù)參數(shù)
JR-WD-50 JR-WD-80 JR-WD-100 JR-WD-150 JR-WD-250 JR-WD-480
內(nèi)部尺寸 HxD(mm)
50L:360×350×350 80L:500×400×400 100L:600×400×400
150L:600×500×500 250L:700×600×600 480L:800×800×750
外部尺寸HxD(cm)
50L:1560×1750×1440 80L:1700×1800×1440 100L:1800×1800×1440
150L:1800×1900×1540 250L:1900×2000×1640 480L2020×2250×2150
溫度范圍：低溫(B：-40;C：-55;D：-65)~高溫+150℃
高溫區(qū)：+60℃~+200℃
低溫區(qū)：-10℃~-75℃;
升溫時間(蓄熱區(qū)) ：RT~200℃約需35min
降溫時間(蓄冷區(qū)) ：RT~-70℃約需85min
溫度恢復(fù)時間/轉(zhuǎn)換時間： ≤5min內(nèi) / ≤10sec內(nèi)
溫度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃
三,、參照標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法
GJB360.7-87 溫度沖擊試驗
SJ/T10187-91Y73 系列溫度變化試驗箱—箱式
GJB150.3-86 GJB150.5-86
GJB150.4-86 電子冷熱沖擊試驗箱,，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗機(jī)
四,、操作流程
一般來說,，三箱式冷熱沖擊試驗箱操作分為五部走：預(yù)處理、初始檢測,、試驗,、恢復(fù)、zui后檢測,。下面杰瑞設(shè)備和大家一起分享一下詳細(xì)流程內(nèi)容：
1.預(yù)處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下,，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2.初始檢測：將被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對照,，符合要求后直接放入三箱式冷熱沖擊試驗箱內(nèi)即可,。
3.試驗：
1)試驗樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗箱內(nèi),并將試驗箱(室)內(nèi)溫度升到點，保持一定的時間至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,，以時間長度為準(zhǔn),。
2)高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗箱(室)內(nèi),，保持1h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,，以時間長度為準(zhǔn)。
3)低溫階段結(jié)束后,，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗箱(室)內(nèi),，保持1h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時間長度為準(zhǔn),。
4)重復(fù)上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期,。根據(jù)樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差,。
4. 恢復(fù)：試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后,，應(yīng)在正常的試驗大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,。
5.zui后檢測：對照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測結(jié)果評定,。