一,、三箱式冷熱沖擊試驗箱特點/高低溫沖擊測試機名詞解析

　三箱式冷熱沖擊試驗箱適用于電子電器零組件、自動化零部件,、通訊組件,、汽車配件、金屬,、化學材料,、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè),、航天,、兵工業(yè)、BGA基扳,、電子芯片,、IC半導體陶瓷及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害,，可確認產品的品質,從精密IC到重機械的組件,，無一不需要它，是理想測試工具.冷熱沖擊試驗機,，用來測試材料結構或復合材料,，在瞬間下經*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，可作為其產品改進的依據或參考,。

二,、三箱式冷熱沖擊試驗箱特點/高低溫沖擊測試機型號與技術參數

JR-WD-50 JR-WD-80 JR-WD-100 JR-WD-150 JR-WD-250 JR-WD-480

內部尺寸 HxD(mm)

50L:360×350×350  80L:500×400×400  100L:600×400×400

150L:600×500×500  250L:700×600×600  480L:800×800×750

外部尺寸HxD(cm)

50L:1560×1750×1440   80L:1700×1800×1440   100L:1800×1800×1440

150L:1800×1900×1540  250L:1900×2000×1640  480L2020×2250×2150

溫度范圍：低溫(B：-40;C：-55;D：-65)~高溫+150℃

高溫區(qū)：+60℃~+200℃

低溫區(qū)：-10℃~-75℃;

升溫時間(蓄熱區(qū)) ：RT~200℃約需35min

降溫時間(蓄冷區(qū)) ：RT~-70℃約需85min

溫度恢復時間/轉換時間： ≤5min內 / ≤10sec內

溫度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃

三,、參照標準

GB/T2423.1-1989 電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-1989電工電子產品基本試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法

GJB360.7-87 溫度沖擊試驗

SJ/T10187-91Y73 系列溫度變化試驗箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 電子冷熱沖擊試驗箱，電子產品冷熱沖擊試驗箱,，電子產品冷熱沖擊試驗機

四,、操作流程

一般來說，三箱式冷熱沖擊試驗箱操作分為五部走：預處理,、初始檢測,、試驗、恢復,、zui后檢測,。下面杰瑞設備和大家一起分享一下詳細流程內容：

1.預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩(wěn)定,。

2.初始檢測：將被測樣品與標準要求對照,，符合要求后直接放入三箱式冷熱沖擊試驗箱內即可。

3.試驗：

1)試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內,并將試驗箱(室)內溫度升到點,，保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長度為準,。

2)高溫階段結束后,，在5min內將試驗樣品轉換到已調節(jié)到-55℃的低溫試驗箱(室)內，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定,，以時間長度為準,。

3)低溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節(jié)到70℃的高溫試驗箱(室)內,，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定,，以時間長度為準。

4)重復上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期,。根據樣件大小與空間大小,，時間可能會略有誤差。

4. 恢復：試驗樣品從試驗箱內取出后,，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復,，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。

5.zui后檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定,。

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