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ESD靜電放電測(cè)試桌 手機(jī)微跌落試驗(yàn)機(jī) ESD系列靜電放電發(fā)生器 手機(jī)滾筒跌落試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)振動(dòng)耐磨試驗(yàn)機(jī) 酒精耐摩擦試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)硬壓試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)軟壓壽命試驗(yàn)機(jī) 觸摸屏點(diǎn)擊劃線壽命試驗(yàn)機(jī) RCA系列紙帶摩擦試驗(yàn)機(jī) 插拔力壽命試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)定向跌落試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)扭轉(zhuǎn)壽命試驗(yàn)機(jī) 鋼球沖擊(跌落)試驗(yàn)機(jī) 手機(jī)按鍵壽命試驗(yàn)機(jī) 手搖式鉛筆硬度計(jì)
簡(jiǎn)述4G無(wú)線通訊的可靠性測(cè)試!
簡(jiǎn)述4G無(wú)線通訊的可靠性測(cè)試,!
4G即為第四代無(wú)線通信系統(tǒng),,它不僅能控制其它設(shè)備,還能利用短距離PAN,、WLAN和長(zhǎng)距離蜂巢式通訊技術(shù)來(lái)傳輸信息,。 并且將使家庭和工作中的各種無(wú)線應(yīng)用更為快速、方便,。
4G行動(dòng)上網(wǎng)的帶寬是現(xiàn)行3.5G的10倍之多,。若我們將3G或ADSL比喻成四線道的省道,4G行動(dòng)上網(wǎng)就如同十線道的高速公路!4G行動(dòng)上網(wǎng)運(yùn)用本身特色及超大帶寬的優(yōu)勢(shì),,讓使用者無(wú)論身處室內(nèi),、戶外甚至是高速移動(dòng)中,都可享受真正寬帶行動(dòng)上網(wǎng)的便利 ,。
無(wú)線IT通訊產(chǎn)業(yè)與服務(wù)器相關(guān)試驗(yàn)專區(qū):
云端運(yùn)算(Cloud Computing)已被視為目前科技業(yè)大的成長(zhǎng)機(jī)會(huì),,未來(lái)幾年,科技業(yè)將重新洗牌,,誕生新的營(yíng)運(yùn)獲利模式,,并改變生活方式,面對(duì)一連串的硬件需求測(cè)試,更嚴(yán)苛的規(guī)范需求,,您,,準(zhǔn)備好了嗎?讓慶聲科技來(lái)為您解決測(cè)試上的難題。
?熱傳導(dǎo)專區(qū)
?熱導(dǎo)管測(cè)試
?Bellcore GR78-CORE
?可變電阻溫度特性檢測(cè)
?陶瓷基板測(cè)試?無(wú)鉛制程試驗(yàn)條件
?SIR離子遷移試驗(yàn)條件
?無(wú)鉛制程試驗(yàn)條件
?溫變率設(shè)定模式
?自然對(duì)流試驗(yàn)規(guī)范說(shuō)明
筆記本電腦從早期的12吋屏幕進(jìn)化到現(xiàn)在的LED背光屏幕,,其運(yùn)算效能及3D處理,,不會(huì)輸給一般桌上計(jì)算機(jī),而重量越來(lái)越?jīng)]有負(fù)擔(dān),,相對(duì)的對(duì)于整個(gè)筆記本電腦的可靠度試驗(yàn)要求也越趨嚴(yán)苛,從早期的包裝落下到現(xiàn)今的開機(jī)落下,,傳統(tǒng)的高溫高濕到現(xiàn)在的結(jié)露試驗(yàn),,從一般環(huán)境的溫濕度范圍到將沙漠試驗(yàn)列為常用條件,這些都是生產(chǎn)筆記本電腦相關(guān)組件及設(shè)計(jì)所需要考慮的部分 ,。
?壓鑄件高溫高濕加速試驗(yàn)
?熱導(dǎo)管測(cè)試
?熱傳導(dǎo)專區(qū)
?自然對(duì)流試驗(yàn)機(jī),、恒溫恒濕機(jī)與高溫烤箱比較?自然對(duì)流試驗(yàn)規(guī)范說(shuō)明
?IEC68-2-5地面太陽(yáng)輻射模擬試驗(yàn)
?溫度循環(huán)應(yīng)力篩選(JR-WS-225C)
筆記本電腦試驗(yàn)條件專區(qū)
PCB(印刷電路板)與FPC(軟性電路板)雖不是一個(gè)完整的消費(fèi)性電子產(chǎn)品,卻是一個(gè)*的重要零組件,,所有的電子產(chǎn)品都缺少不了他們,,占有舉足輕重的地位。像現(xiàn)今薄型手機(jī)或其他更輕薄短小的攜帶型電子產(chǎn)品,,都是PCB的技術(shù)提升才有辦法達(dá)到,,相關(guān)的可靠度測(cè)試您也可以在這專區(qū)找到所需要的資源。
?PCT測(cè)試目的與應(yīng)用
?Bellcore GR78-CORE 要點(diǎn)整理
?可變電阻溫度特性檢測(cè)
?SIR離子遷移試驗(yàn)條件?錫須(晶須)解決方案
?離子遷移量測(cè)常見(jiàn)問(wèn)題
?印刷電路板試驗(yàn)條件
?無(wú)鉛制程試驗(yàn)條件