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光譜儀的主要功能和應(yīng)用
閱讀：3958 發(fā)布時(shí)間：2022-9-29
光譜儀主要用于對金屬材料及零部件進(jìn)行高頻拉伸,、壓縮試驗(yàn)及拉壓交變負(fù)荷下的疲勞性能,、斷裂力學(xué)性能測試,。配備相應(yīng)的夾具,，還可以進(jìn)行三點(diǎn)、四點(diǎn)彎曲,，緊湊拉伸,、板試件拉伸、齒輪,、螺栓,、連桿、鏈條等疲勞試驗(yàn),，還可以進(jìn)行顯微觀察法裂紋擴(kuò)展速率及程控加荷等試驗(yàn),。
光譜儀的主要功能
常州光譜儀的基本作用是測量被研究光（所研究物質(zhì)反射、吸收,、散射或受激發(fā)的熒光等）的光譜特性,，包括波長、強(qiáng)度等譜線特征,。
因此,，常州光譜儀應(yīng)具有以下功能：
（1）分光：把被研究光按一定波長或波數(shù)的發(fā)布規(guī)律在一定空間內(nèi)分開。
（2）感光：將光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號,，相應(yīng)測量出各波長光的強(qiáng)度,，得到光能量按波長的發(fā)布規(guī)律。
（3）繪譜線圖：把分開的光波及其強(qiáng)度按波長或波數(shù)的發(fā)布規(guī)律記錄保存或顯示對應(yīng)光譜圖,。
光譜儀的應(yīng)用
常州光譜儀當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,，使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài)，當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子,，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級光電子,，發(fā)生俄歇效應(yīng),，亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子,。