0.9°步進(jìn)型多角度（MADLS）真正的多角度模塊

不同粒徑的納米粒子,，尤其是粒徑遠(yuǎn)小于激光波長的粒子在傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論下,，力度分布（PSD）會(huì)失去一些細(xì)節(jié),。Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列開創(chuàng)性地配備了可以從14.4°-180°范圍內(nèi),，步長0.9°的多角度模塊，對特殊樣品（如極小粒徑）可以選用合適的角度進(jìn)行檢測,，顯著提高對復(fù)雜體系的分辨力,。

復(fù)用型直插靶電級，減少耗材成本

Zeta電位檢測模塊,，采用雙列直插式靶電極,，清潔方便，易于清洗,，可以反復(fù)使用,。既保護(hù)了環(huán)境，也大大減少了使用一次性可丟棄的電極模塊的成本,。

專有的Nicomp®多峰分布,，可分辨1:2的多組分

Entegris（PSS）Nicomp® 3000系列搭載了Nicomp®多峰算法，可以有效區(qū)分不同粒徑（1：2的不同組分）,，為復(fù)雜體系和多組分體系提供了強(qiáng)有力的生產(chǎn)工具,。

（下圖為同一復(fù)雜體系樣品分別在高斯算法和Nicomp®算法所呈現(xiàn)的結(jié)果）

                   

                

高斯粒徑分布圖

                

Nicomp®多峰粒徑分布圖

                   

自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊，減少試錯(cuò)成本和人工誤差

Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列在動(dòng)態(tài)光散射法上應(yīng)用了自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊,，既可以有效避免人工稀釋所帶來的試錯(cuò)成本和誤差,，更可以實(shí)現(xiàn)檢測的自動(dòng)化操作，為大批量的檢測提供了良好的解決方案,。

Nicomp® 3000系列設(shè)備檢測原理圖

Nicomp® 3000系列納米激光粒度儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測分析樣品的粒度分布,?；诙嗥绽针娪竟馍⑸湓恚―oppler Electrophoretic Light Scattering，ELS）檢測ZETA電位,。其主要用于檢測納米級別及微米級別的體系，粒徑檢測范圍0.3nm-10μm,，ZETA電位檢測范圍為±500mV,。動(dòng)態(tài)光散射方法（DLS）從傳統(tǒng)的光散射理論中分離，關(guān)注瑞利散射區(qū)的小顆粒,，主要用于檢測納米級別的分散體系,。動(dòng)態(tài)光散射是通過光強(qiáng)值的波動(dòng)得到自相關(guān)函數(shù),，從而獲得衰減時(shí)間常量τ，進(jìn)而計(jì)算獲得粒子的擴(kuò)散速度D（Diffusion Coefficient,，擴(kuò)散系數(shù)）,，代入Stokes-Einstein方程式，就可以計(jì)算得到顆粒的半徑,。

Zeta電勢電位測定：Nicomp® Z3000結(jié)合了動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)（DLS）和電泳光散射法（ELS）,實(shí)現(xiàn)了同機(jī)測試亞微米粒子分布和ZETA電勢電位,。ELS是將電泳和光散射結(jié)合起來的一種新型光散射，它的光散射理論基礎(chǔ)是準(zhǔn)彈性碰撞理論,，在實(shí)驗(yàn)時(shí)通過在樣品槽中外加一個(gè)外電場,，帶電粒子即會(huì)以固定速度向與帶電粒子電性相反的電極方向移動(dòng)，與之相應(yīng)的動(dòng)態(tài)光散射光譜產(chǎn)生多普勒漂移,，這一漂移正比于帶電粒子的移動(dòng)速度,，因此由實(shí)驗(yàn)測得的譜線的漂移，就可以求得帶電粒子的電泳速度,，從而得到電位值,。通過測試顆粒之間的排斥力，判斷體系穩(wěn)定性的測量手段之一,。

相位分析法（PALS）:用相位（Phase）變化的分析取代原先頻譜的漂移,，不僅使Zeta電位分析的精度及穩(wěn)定性有了顯著的提高，而且突破了水相體系的限制,，對有機(jī)相體系同樣能提供Zeta電位的精確分析,。