大顆粒粒徑檢測(cè)是一種常用的粒度儀產(chǎn)品，被廣泛用于建材,、化工,、冶金,、能源、食品,、電子,、地質(zhì)、軍工,、航空航天,、機(jī)械、高校、實(shí)驗(yàn)室,，研究機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域中,。

    大顆粒粒徑檢測(cè)是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布來分析顆粒大小的儀器，根據(jù)能譜穩(wěn)定與否分為靜態(tài)光散射粒度儀和動(dòng)態(tài)光散射激光粒度儀,。大顆粒粒徑檢測(cè)的缺點(diǎn)是激光性能受溫度影響大,，光束的發(fā)散角較大，所以在方向性,、單色性和相干性等方面較差,。但隨著科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展，目前大顆粒粒徑檢測(cè)的的性能已經(jīng)達(dá)到很高的水平,，而且光束質(zhì)量也有了很大的提高,。

    大顆粒粒徑檢測(cè)動(dòng)態(tài)范圍寬，重復(fù)性好,，操作簡(jiǎn)單方便,，設(shè)計(jì)的探測(cè)器陣列，了各種粒度顆粒散射信號(hào)的有效接收,，從而了對(duì)寬分布的樣品測(cè)量結(jié)果更為,。大顆粒粒徑檢測(cè)功能強(qiáng)大，既能測(cè)試納米級(jí)粉體又能測(cè)試微米級(jí)粉體,，兩種測(cè)試功能只需點(diǎn)一下鼠標(biāo),，幾秒鐘就實(shí)現(xiàn)快捷轉(zhuǎn)換。

    大顆粒粒徑檢測(cè)集光學(xué),、電路,、樣品池、超聲波分散,、攪拌循環(huán),、全自動(dòng)清洗一體化，電腦控制下自動(dòng)對(duì)中校零,。測(cè)試時(shí)樣品在管道內(nèi)流動(dòng)的時(shí)間短,，避免了樣品分散后的分層和重新團(tuán)聚，從而儀器重復(fù)性,、穩(wěn)定性好,。大顆粒粒徑檢測(cè)具有2種進(jìn)樣系統(tǒng)可選，滿足您的各種測(cè)試需求,。2種進(jìn)樣系統(tǒng)能方便地互換,，包括普通型、微量型,，用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇不同的數(shù)據(jù)處理方法和分布模型,。

    大顆粒粒徑檢測(cè)包含多種分布模式,，有自由分布、對(duì)數(shù)正態(tài)分布,、R-R分布等,，可以滿足不同樣品的測(cè)試和對(duì)比的需要，對(duì)試樣進(jìn)行干燥處理,，避免試樣結(jié)塊導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果有誤,。將軟件測(cè)試模式切換為干法，打開吸塵器,，將吸塵管口于干粉測(cè)試臺(tái)聯(lián)接,，用刷清掃載物臺(tái)及載物量筒，并用量勺將試樣均勻置于量筒內(nèi),。