美國Ultrafast高速光譜儀
美國Ultrafast高速光譜儀
Ultrafast Systems成立于2002年,總部位于佛羅里達州,。專注于時間分辨激光光譜儀的設計和制造,。產(chǎn)品系列包含許多光譜儀,它們的光譜和時間覆蓋范圍非常廣,,可用于吸收和發(fā)射測量,。產(chǎn)品易于使用,在很大程度上都是自動化的,,而有些則具有全自動的功能,。通過多年來不斷地研究創(chuàng)新,為客戶提供高品質的產(chǎn)品及服務,,滿足客戶需求,。
產(chǎn)品范圍:
美國Ultrafast高速光譜儀、光譜儀,、納秒瞬態(tài)吸收光譜儀,、可調皮秒光源。
應用:
光物理,、光化學,、光生物學、材料科學,、納米科學以及太陽能轉換和存儲,。
相關產(chǎn)品介紹:
EOS IR是一款寬帶中紅外泵浦探頭納秒瞬態(tài)吸收光譜儀。作為一個完整的交鑰匙系統(tǒng),,EOS IR可以在較大的時間窗口內以納秒級的時間分辨率(可調整至亞毫秒級)測量寬范圍(2-13 µm)光譜范圍內光誘導的吸光度變化,。雖然EOS IR可以作為獨立的光譜儀使用,但通常與我們的寬帶泵浦探針飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀HELIOS IR集成在一起,。 EOS IR和HELIOS IR共享大部分組件,,包括光學元件和檢測器。因此,,使集成成本效益,。集成后,HELIOS IR和EOS IR覆蓋了從皮秒到亞毫秒的時間范圍,,沒有任何間隙,。
探針光譜范圍:通常為2-13 µm??蓴U展至20 µm,。
可變光譜分辨率和光譜范圍:
當EOS-IR與陣列(多像素)檢測器一起使用時,必須能夠改變將探針光譜成像到傳感器上的分辨率,。這使得可以確保解析出所需的光譜特征,,并且還可以控制所采集的光譜范圍,。為此,我們利用三光柵成像光譜儀(320毫米,; f / 4.1)來實現(xiàn)不同的檢測帶寬和光譜分辨率,。
該系統(tǒng)標配以下光柵:
3-9 µm,0.4 µm帶寬,,分辨率為6.2 nm
4-10 µm,,0.8 µm帶寬12.4 nm分辨率
3-9 µm,1.2 µm帶寬18.6 nm分辨率
亞毫秒級時間范圍內的亞納秒分辨率:
EOS IR是一種泵浦探針式光譜儀,,具有基于連續(xù)光電方法的常規(guī)閃光光解法無法實現(xiàn)的時間分辨率,。在EOS IR中,泵探測延遲是電子控制的,,并且max時間窗口非常接近泵激光器重復周期的一半,。可以將max時間窗計算為:(泵浦激光重復周期)/ 2-100 µs,。例如,,對于1 kHz泵浦激光器,該值為400 µs,。