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美國Ultrafast高速光譜儀
美國Ultrafast高速光譜儀
Ultrafast Systems成立于2002年，總部位于佛羅里達州,。專注于時間分辨激光光譜儀的設計和制造,。產(chǎn)品系列包含許多光譜儀，它們的光譜和時間覆蓋范圍非常廣,，可用于吸收和發(fā)射測量,。產(chǎn)品易于使用，在很大程度上都是自動化的,，而有些則具有全自動的功能,。通過多年來不斷地研究創(chuàng)新，為客戶提供高品質的產(chǎn)品及服務,，滿足客戶需求,。
產(chǎn)品范圍：
美國Ultrafast高速光譜儀、光譜儀,、納秒瞬態(tài)吸收光譜儀,、可調皮秒光源。
應用：
光物理,、光化學,、光生物學、材料科學,、納米科學以及太陽能轉換和存儲,。
相關產(chǎn)品介紹：
EOS IR是一款寬帶中紅外泵浦探頭納秒瞬態(tài)吸收光譜儀。作為一個完整的交鑰匙系統(tǒng),，EOS IR可以在較大的時間窗口內以納秒級的時間分辨率（可調整至亞毫秒級）測量寬范圍（2-13 µm）光譜范圍內光誘導的吸光度變化,。雖然EOS IR可以作為獨立的光譜儀使用，但通常與我們的寬帶泵浦探針飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀HELIOS IR集成在一起,。 EOS IR和HELIOS IR共享大部分組件,，包括光學元件和檢測器。因此,，使集成成本效益,。集成后，HELIOS IR和EOS IR覆蓋了從皮秒到亞毫秒的時間范圍,，沒有任何間隙,。
探針光譜范圍：通常為2-13 µm?？蓴U展至20 µm,。
可變光譜分辨率和光譜范圍：
當EOS-IR與陣列（多像素）檢測器一起使用時，必須能夠改變將探針光譜成像到傳感器上的分辨率,。這使得可以確保解析出所需的光譜特征,，并且還可以控制所采集的光譜范圍,。為此，我們利用三光柵成像光譜儀（320毫米,； f / 4.1）來實現(xiàn)不同的檢測帶寬和光譜分辨率,。
該系統(tǒng)標配以下光柵：
3-9 µm，0.4 µm帶寬,，分辨率為6.2 nm
4-10 µm,，0.8 µm帶寬12.4 nm分辨率
3-9 µm，1.2 µm帶寬18.6 nm分辨率
亞毫秒級時間范圍內的亞納秒分辨率：
EOS IR是一種泵浦探針式光譜儀,，具有基于連續(xù)光電方法的常規(guī)閃光光解法無法實現(xiàn)的時間分辨率,。在EOS IR中，泵探測延遲是電子控制的,，并且max時間窗口非常接近泵激光器重復周期的一半,。可以將max時間窗計算為：（泵浦激光重復周期）/ 2-100 µs,。例如,，對于1 kHz泵浦激光器，該值為400 µs,。