產(chǎn)品簡介
CMI900鍍層測厚儀特點:
精度高,、穩(wěn)定性好
強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計,、處理功能
測量范圍寬
NIST認證的標準片
服務及支持
詳細介紹
一、產(chǎn)品概述:
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,,可應用于材料的涂/鍍層厚度,、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,,為產(chǎn)品質量控制提供準確,、快速的分析,有著非破壞,,非接觸,,多層合金測量,高生產(chǎn)力,,高再現(xiàn)性等優(yōu)點,,在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件,,半導體,,PCB,汽車零部件,,功能性電鍍,,裝飾件,連接器等多個行業(yè),。
二,、產(chǎn)品特點:
1、樣品種類:鍍層,、涂層,、薄膜,、液體(鍍液中的元素含量)
2、可檢測元素范圍:Ti22 - U92
3,、可同時測定5層/15種元素
4,、精度高、穩(wěn)定性好
5,、強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計,、處理功能
6、測量范圍寬
7,、NIST認證的標準片
8,、服務及支持
三、技術參數(shù),;
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都于*的測厚行業(yè)
1,、CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層,、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀,、金、鈀,、錫等)和其它薄鍍層,。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定zui多5層、15 種元素,。
2,、精確度于世界,精確到0,。025um (相對與標準片)
3,、數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求:如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表,、測定位置的圖象,、CAD文件等。
4,、統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值,、誤差分析、zui大值,、zui小值,、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差,、UCL(控制上限),、LCL(控制下限)、CpK圖,、直方圖,、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式,。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
5,、可測量任一測量點,,zui小可達0.025 x 0.051毫米
四,、可選附件:
CMI900系列采用開槽式樣品室,,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,,分別為:
l1,、標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制,。
2,、擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制,。
l3,、可調高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制,。
4,、程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
5,、超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制,。
五、交貨期限:
收到貴司訂單及合同后6-8周