分析電子件上的金和鈀的厚度,,例如Au/Ni/Cu,,Au/Pd/Ni/Cu
測量線路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy
電鍍表面處理的多樣品和多點分析
單層或多層厚度測量
鍍液成份分析
黃金分析及其他元素測定
貴金屬合金檢測
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,,提高過程和質(zhì)量控制,。
X-Strata鍍層測厚儀是結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用,、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備,,提供簡單、快速,、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè),、五金電鍍行業(yè),、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力,,可進行多鍍層厚度的測量,。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供:
- 無損分析:無需樣品制備
- 經(jīng)行業(yè)認證的技術(shù)和可靠性,,確保每年都帶來收益
- 操作簡單,,只需要簡單的培訓(xùn)
- 分析只需三步驟
- 杰出的分析準確性和精確性
- 在鍍層測厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗
鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大,、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量,,保證質(zhì)量的同時降低成本。
電子行業(yè) - 有效控制生產(chǎn)過程,,提高生產(chǎn)力
- 分析電子件上的金和鈀的厚度,,例如Au/Ni/Cu,,Au/Pd/Ni/Cu
- 測量線路板上的可焊性,,比如Ag/Cu/Epoxy
五金電鍍行業(yè) - 電鍍表面處理的成本zui小化,,產(chǎn)量zui大化
- 多樣品和多點分析
- 單層或多層厚度測量
- 鍍液成份分析
貴金屬/金屬合金 - 珠寶及其他合金的快速無損分析
- 黃金分析及其他元素測定
- 貴金屬合金檢測
*性檢測 - 確保產(chǎn)品符合規(guī)格
- 測定有害物質(zhì)從ppm級到高百分比級
- 有毒元素定量分析,,例如檢測鎘、汞,、鉛等含量是否符合規(guī)定
X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要:
固定樣品臺
- 開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品,,如印制線路板,。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
- 經(jīng)濟,、實用
- 平面樣品臺設(shè)計,,適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
加深樣品臺
- 高度每英寸(25.4mm)可調(diào),,架構(gòu)式樣品艙可容納zui大高度6.3"(160mm)的樣品
- 可以選4個樣品盤中任一個來盛放不同高度的樣品
- 開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品,,如印制線路板,。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
程控樣品臺
- 用于自動化測量
- 方便根據(jù)測試位置放置樣品,并精準定位測量點
- 開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品,,如印制線路板
- 樣品臺尺寸:22"(D) x 24"(w),,即560mm (深) x 610mm (寬)