一、概述：
可控硅測(cè)試儀,，是一種新穎的全數(shù)字顯示式多功能可控硅參數(shù)測(cè)試裝置,，它可以測(cè)量各種大小功率的單雙向可控硅（晶閘管），小至TO-92,、TO-126,、TO-220、TO-3P等封裝的單雙向可控硅,，大至1000A 的平板型可控硅,、螺栓型可控硅和各種組合模塊,，可以測(cè)量觸發(fā)電流IGT、觸發(fā)電壓VGT,、斷態(tài)不重復(fù)峰值電壓VDSM,、反向不重復(fù)峰值電壓VRSM等可控硅主要參數(shù)，該儀器主要用于可控硅使用廠家對(duì)可控硅元件的質(zhì)量檢驗(yàn),、參數(shù)的配對(duì),、可控硅設(shè)備的維修之用。儀器還可以用于其它電子元器件的高低壓耐壓測(cè)試,，如：大中小功率的二極管,、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管的耐壓,，壓敏電阻的電壓值,，觸發(fā)二極管的轉(zhuǎn)折電壓等。
二,、主要應(yīng)用范圍：
1,、可以測(cè)量0.5A-1000A以下的單雙向可控硅及各種可控硅模塊的IGT、VGT,、VDSM,、VRSM 。
2,、可以測(cè)量可控硅的雙向觸發(fā)二極管的轉(zhuǎn)折電壓,。
3、可以測(cè)量各種大小功率的二極管,、三極管,、穩(wěn)壓管、場(chǎng)效應(yīng)管,、IGBT及各種模塊的擊穿電壓,。
4、可以測(cè)量各種大小功率的壓敏電阻,、放電管等的擊穿電壓,。
5、可以測(cè)量非電解類小容量電容器的耐壓（尤其可以測(cè)量4KV以下的小容量高壓電容）,。
6,、一般可控硅測(cè)試采用0-4KV等級(jí)的儀器已能滿足要求，若有其它特殊要求可以定制zui高達(dá)0-12KV的儀器,。
三,、可控硅測(cè)量?jī)x主要技術(shù)參數(shù)：
1、觸發(fā)電壓VGT測(cè)量范圍： 0—5V ， 精度 ≤2.5%,。
2,、觸發(fā)電流IGT 測(cè)量范圍： 0—19.99mA ，0—199.9mA ,， （分兩檔） 精度 ≤2.5%,。
3、可控硅耐壓參數(shù)測(cè)試用高壓輸出和測(cè)量范圍： 0—2KV,、 0—4KV ,，（分兩檔） 精度 ≤2.5% 。
4,、其它電子原器件耐壓測(cè)試用高壓輸出和測(cè)量范圍： 0—2KV,、 0—4KV 。
四,、產(chǎn)品特點(diǎn)是：
1,、實(shí)用性強(qiáng)
2、測(cè)量范圍廣
3,、使用方便
4,、采用一種特殊的可調(diào)恒壓限流電源可確保在測(cè)試耐壓的過(guò)程中不易損壞被測(cè)器件。
五,、可測(cè)試類型：
1、平板型大功率可控硅（晶閘管）的測(cè)試
2,、螺栓型中大功率可控硅（晶閘管）的測(cè)試
3,、利用塑封管測(cè)試盒可以測(cè)量從TO-92到TO-3P等各種封裝的可控硅
4、塑封中小功率可控硅（晶閘管）的測(cè)試
5,、可控硅（晶閘管）模塊的測(cè)試
