一、tt260涂層測厚儀價格符合以下標(biāo)準(zhǔn)： 
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法 
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 
JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》 
JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》 

二,、tt260涂層測厚儀價格特點(diǎn)： 
1,、采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度,； 
2,、可使用 7 種測頭(F400、F1,、F1/90°,、F10、CN02,、N1) 
3,、具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）； 
4,、具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B),； 
5、設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）,、zui大值（MAX）,、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）,、
標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）,； 
6、可采用兩種方法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正,； 
7、具有存貯功能：可存貯 495 個測量值,； 
8,、具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),，以便進(jìn)行新的測量,； 
9、可設(shè)置限界：對限界外的測量值能自動報警,；并可用直方圖對一批測量值進(jìn)行分析； 
10,、具有打印功能：可打印測量值,、統(tǒng)計值,、限界、直方圖,； 
11,、具有與 PC 機(jī)通訊的功能：可將測量值、統(tǒng)計值傳輸至 PC 機(jī),，以便對數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理,； 
12、具有電源欠壓指示功能,； 
13,、操作過程有蜂鳴聲提示； 
14,、具有錯誤提示功能,，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯誤提示； 
15,、設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動關(guān)機(jī)方式和自動關(guān)機(jī)方式,； 

三 測量原理 
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼,、鐵,、合 概述 金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻,、銅,、琺瑯、橡膠,、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅,、鋁、鋅,、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯,、橡膠、油漆,、塑料等),。 
a) 磁性法(F 型測頭) 
 當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,，由于非磁性覆蓋層的存在,，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度,。 
b) 渦流法(N 型測頭) 
 利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場,，當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn) 生電渦流,，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過測量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度,。 

四、儀器的校準(zhǔn) 
為使測量準(zhǔn)確,，應(yīng)在測量場所對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),。 
3.1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片（包括箔和基體） 
 已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡稱標(biāo)準(zhǔn)片,。 
a) 校準(zhǔn)箔 
對于磁性方法,，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法,，通常采用塑料箔,。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn)，而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適,。 
b) 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片 
采用已知厚度的,、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片,。對于磁性方法,， 覆蓋層是非磁性的。對于渦流方法,，覆蓋層是非導(dǎo)電的,。

3.2 基體 
a) 對于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度,，應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似,。對于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),，應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似,。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數(shù)進(jìn)行比較,。 
b) 如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度,，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)： 
1) 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)； 
2) 用一足夠厚度的,，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件,，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件,，不能采用襯墊法,。 
c) 如果待測覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率,，應(yīng)與試樣的曲率相同,。

3.3 校準(zhǔn)方法 
本儀器有三種測量中使用校準(zhǔn)方法: 零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、在噴沙表面上校準(zhǔn),。二點(diǎn)校準(zhǔn)法又分一試片法和二試片法,。還有一種針對測頭的基本校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡單的,。 

3.3.1 零點(diǎn)校準(zhǔn) 
適用于除 CN02 外的所有的測頭。 
a) 在基體上進(jìn)行一次測量,，屏幕顯示＜×.×µm＞,。 
b) 按 ZERO 鍵，屏顯<0.0>,。校準(zhǔn)已完成,，可以開始測量了。 
c) 重復(fù)上述 a,、b 步驟可獲得更為精確的零點(diǎn),，高測量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測量了,。 
3.3.2 二點(diǎn)校準(zhǔn) 
3.3.2.1 一試片法 
適用于除 CN02 外的所有測頭,。這一校準(zhǔn)法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼,、合金鋼,。 
a) 先校零點(diǎn)（如上述）。 
b) 在厚度大致等于預(yù)計的待測覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測量,，屏幕顯示＜×××µm＞,。 
c) 用↑、↓鍵修正讀數(shù),，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值,。校準(zhǔn)已完成，可以開始測量了,。 

3.3.2.2 二試片法 
 適用于除 CN02 外的所有測頭,。兩個標(biāo)準(zhǔn)片厚度至少相差三倍。待測覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個校準(zhǔn)值之間,。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測量,。 
a) 先校零值。 
b) 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測量,，用↑,、↓鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值,。 
c) 緊接著在厚的一個樣片上進(jìn)行一次測量,，用↑、↓鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值,。校準(zhǔn)已完成,，可以開始測量了。 

3.3.2.3 在噴沙表面上校準(zhǔn) 
 噴沙表面的特性導(dǎo)致了測量值大大偏離真值,，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定,。 

方法一： 
a) 儀器要用 3.3.1 或 3.3.2.1 的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準(zhǔn)好。 
b) 在未涂覆的經(jīng)過同樣噴沙處理的表面測量 10 次左右,，得到平均值 Mo,。 
c) 然后，在已涂覆的表面上測量 10 次得到平均值 Mm,。 
d) （Mm—Mo）±S 即是覆蓋層厚度,。 
其中 S（標(biāo)準(zhǔn)偏差）是 SMm和 SMo 中較大的一個。 
方法二： 
a) 用直接方式下的單次測量法測量,。 
b) 先用兩試片法校準(zhǔn)儀器,。 
c) 在試樣上測量 5～10 次。按 STATS 鍵,，統(tǒng)計值中的平均值即是覆層厚度,。 
3.3.2.4 銅上鍍鉻層的校準(zhǔn)方法 
適用于 N1 測頭，并使用特殊的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片,。（去掉 N400,、N1/90°） 
 ⊙必須使用一試片法。 
 ⊙使用標(biāo)有“銅上鍍鉻” (CHROME ON COPPER) 字樣的特殊標(biāo)準(zhǔn)片,。 
3.3.2.5 CN02 測頭的校準(zhǔn)方法 
CN02 是一種平展的測頭,，僅適用于測量平滑表面的銅板或銅箔的厚度。 
a) 開機(jī)后,，將 CN02 測頭平穩(wěn)地放在隨機(jī)配帶的 5.0mm 銅塊上,，按 ZERO 鍵，屏幕顯示“OO”,； 
b) 在標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測量,； 
c) 用↑、↓鍵修正讀數(shù),，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值,。校準(zhǔn)已完成，可以開始測量,。 
d) 測量雙面覆銅板需用雙面敷銅標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn),。 

3.3.3 修改組 FX中的校準(zhǔn)值 
刪除組單元中的所有數(shù)據(jù)和校準(zhǔn)值之后才能重新校準(zhǔn)。否則將出現(xiàn) E20 錯誤代碼和鳴響報警,。更換測頭后,，必須用此方法,。 
3.4 基本校準(zhǔn)的修正 
 在下述情況下，改變基本校準(zhǔn)是有必要的: 
 ____測頭頂端被磨損,。 
 ____新?lián)Q的測頭,。 
 ____特殊的用途。 
 在測量中,，如果誤差明顯地超出給定范圍,，則應(yīng)對測頭的特性重新進(jìn)行校準(zhǔn)稱為基本校準(zhǔn)。通過輸入 6 個校準(zhǔn)值(1 個零和 5 個厚度值),，可重新校準(zhǔn)測頭,。 
a) 在儀器關(guān)閉的狀態(tài)下按住↑和↓鍵再按 ON 鍵，直到一聲長鳴,，即進(jìn)入基本校準(zhǔn)狀態(tài)； 
b) 先校零值,?？蛇B續(xù)重復(fù)進(jìn)行多次，以獲得一個多次校準(zhǔn)的平均值,，這樣做可以提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性,； 
c) 使用標(biāo)準(zhǔn)片，按厚度增加的順序,，一個厚度上可做多次,。每個厚度應(yīng)至少是上一個厚度的 1.6 倍以上，理想的情況是 2 倍,。例如: 50,、100、200,、400,、800μm。zui大值應(yīng)該接近但低于測頭的zui大測量范圍,；