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●硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的*結(jié)合，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者,、科研者的需要

●高精度的衍射角度測(cè)量系統(tǒng),，獲取更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果

●高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度

●程序化操作,、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),，操作簡(jiǎn)便、儀器外型更美觀

X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測(cè)試儀器：

●未知樣品中一種和多種物相鑒定

●混合樣品中已知相定量分析

●晶體結(jié)構(gòu)解析

●非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化（高溫,、低溫條件下）

●材料表面膜分析

●金屬材料織構(gòu),、應(yīng)力分析

    X射線衍射儀可以分析天然或是人工合成的無(wú)機(jī)或是有機(jī)材料，廣泛應(yīng)用于粘土礦物,、水泥建材,、環(huán)境粉塵,、化工制品、藥品,、石棉,、巖礦、聚合物等研究領(lǐng)域,。

●基于θ-θ幾何光學(xué)設(shè)計(jì),，便于樣品的制備和各種附件的安裝

●金屬陶瓷X射線管的應(yīng)用，極大提高衍射儀運(yùn)行功率

●封閉正比計(jì)數(shù)器,，耐用免維護(hù)

●硅漂移探測(cè)器具有*的角度分辨率和能量分辨率,，測(cè)量速度提高3倍以上

●豐富的衍射儀附件，滿足不同分析目的需要

●模塊化設(shè)計(jì)或稱即插即用組件,，操作人員不需要校正光學(xué)系統(tǒng),，就能正確使用衍射儀相應(yīng)附件

數(shù)據(jù)測(cè)量功能 

●θs-θd常規(guī)對(duì)稱測(cè)量

●定性、定量分析

●樣品晶體結(jié)構(gòu)分析

●晶體結(jié)晶化評(píng)價(jià)

●晶格尺寸,、晶格應(yīng)力評(píng)價(jià)

θs-θd不對(duì)稱測(cè)量（掠射測(cè)量）

●薄膜/粉末樣品的定性分析和結(jié)構(gòu)分析

●晶格常數(shù)的精確分析

●殘余應(yīng)力/取向評(píng)價(jià)

●薄膜/密度測(cè)量

0mg搖擺測(cè)量

樣品結(jié)晶狀態(tài)的精確評(píng)價(jià)

    不同的測(cè)量功能都是為了研究材料結(jié)構(gòu)而設(shè)計(jì)的,，每種測(cè)量方式而得到的數(shù)據(jù)，都有滿足分析要求的相應(yīng)數(shù)據(jù)處理軟件,。

光學(xué)系統(tǒng)轉(zhuǎn)換 

    不需要拆卸索拉狹縫體,，就可以單獨(dú)更換索拉狹縫結(jié)構(gòu)。由于這一特點(diǎn),，不需要重新調(diào)整儀器,，就可以實(shí)現(xiàn)聚焦光學(xué)系統(tǒng)和平行光學(xué)系統(tǒng)的轉(zhuǎn)換。

    早前聚焦法光學(xué)系統(tǒng)和平行光束法光學(xué)系統(tǒng)分別需要配置彎曲晶體單色器和平面晶體單色器,，光學(xué)系統(tǒng)的轉(zhuǎn)換需要對(duì)光學(xué)系統(tǒng)重新校正,。采用本系統(tǒng)只要將單色器的晶體旋轉(zhuǎn)90°、更換狹縫結(jié)構(gòu),，就可以實(shí)現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)的轉(zhuǎn)換,。

數(shù)據(jù)處理軟件包括以下功能

    基本數(shù)據(jù)處理功能（尋峰、平滑,、背景扣除,、峰形擬合、峰形放大,、譜圖對(duì)比、Kα1,、α2剝離,、衍射線條指標(biāo)化等）；

●無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品快速定量分析

●晶粒尺寸測(cè)量

●晶體結(jié)構(gòu)分析（晶胞參數(shù)測(cè)量和精修）

●宏觀應(yīng)力測(cè)量和微觀應(yīng)力計(jì)算,；

●多重繪圖的二維和三維顯示,；

●衍射峰圖群聚分析,；

DX系列衍射儀除了基本功能外，可快速配置各種附件,，具有*的分析能力

    高精度的機(jī)械加工,，使附件安裝位置的重現(xiàn)性極大地提高，實(shí)現(xiàn)即插即用,。不需要對(duì)光路進(jìn)行校準(zhǔn),，只要在軟件中選定相應(yīng)的附件就可以實(shí)現(xiàn)特殊目的測(cè)量。

多功能樣品架 

    隨著材料研究的深入,，越來(lái)越多的板材,、塊狀材料及基體上的膜也要求用進(jìn)行性能分析。在測(cè)角儀上安裝多功能樣品架可以進(jìn)行織構(gòu),、宏觀應(yīng)力,、薄膜面內(nèi)結(jié)構(gòu)等測(cè)試，每一種測(cè)試功能都有相應(yīng)的計(jì)算軟件,。

●碾軋板（鋁,、鐵、銅板等）織構(gòu)測(cè)量及評(píng)價(jià)

●金屬,、陶瓷等材料殘余應(yīng)力測(cè)量

●薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評(píng)價(jià)

●大分子化合物取向測(cè)量

●金屬,、非金屬基體上的多層膜、氧化膜,、氮化膜分析

●衍射數(shù)據(jù)半峰寬校正曲線,；

●衍射數(shù)據(jù)角度偏差校正曲線；

●基于Rietveld常規(guī)定量分析,；

●使用ICDD數(shù)據(jù)庫(kù)或是用戶數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行物相定性分析,；

●使用ICDD數(shù)據(jù)庫(kù)或是ICSD數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行定量分析；

    織構(gòu)使材料呈現(xiàn)各向異性,，利用織構(gòu)改善和提高材料的性能,、充分發(fā)揮材料性能的潛力，是材料科學(xué)研究的重要工作之一,。雖然檢測(cè)材料織構(gòu)方法很多,，但是zui廣泛應(yīng)用的還是X射線衍射技術(shù)。

    多功能樣品架用于織構(gòu)樣品測(cè)量,，軟件計(jì)算后分別繪制出極圖,、反極圖、ODF圖,。