x射線衍射儀的工作原理和應(yīng)用
閱讀:3255 發(fā)布時(shí)間:2020-5-7
隨著各種工業(yè)和科研項(xiàng)目的要求提高,,需要對X射線衍射對物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析,,那么x射線衍射儀的使用原理是什么,,它的應(yīng)用領(lǐng)域呢,?
什么是x射線衍射儀
X射線衍射儀(X-ray diffractometer,,XRD)是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器,。令一束X射線和樣品交互,用生成的衍射圖譜來分析物質(zhì)結(jié)構(gòu),。它是在X射線晶體學(xué)領(lǐng)域中在原子尺度范圍內(nèi)研究材料結(jié)構(gòu)的主要儀器,,也可用于研究非晶體。
x射線衍射儀的原理
X射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,,即一束X射線照射到物體上時(shí),受到物體中原子的散射,,每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波,,這些波互相干涉,結(jié)果就產(chǎn)生衍射,。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng),,在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果,,便可獲得晶體結(jié)構(gòu),。以上是1912年德國物理學(xué)家勞厄提出的一個(gè)重要科學(xué)預(yù)見,隨即被實(shí)驗(yàn)所證實(shí),。1913年,,英國物理學(xué)家布拉格父子在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)上,不僅成功的測定了NaCl,,KCl等晶體結(jié)構(gòu),還提出了作為晶體衍射基礎(chǔ)的著名公式——布拉格方程:2dsinθ=nλ,。
特征X射線及其衍射X射線是一種波長(0.06-20nm)很短的電磁波,,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光,、照相機(jī)乳膠感光,、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線,,它具有靶中元素相對應(yīng)的特定波長,,稱為特征X射線。如銅靶對應(yīng)的X射線波長為0.154056 nm,。對于晶體材料,,當(dāng)待測晶體與入射束呈不同角度時(shí),那些滿足布拉格衍射的晶面就會(huì)被檢測出來,,體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰,。對于非晶體材料,,由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序,只是在幾個(gè)原子范圍內(nèi)存在著短程有序,,故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰,。
應(yīng)用領(lǐng)域
X 射線衍射儀可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量,并形成了定性,、定量的巖性識(shí)別方法,,為錄井隨鉆巖性快速識(shí)別、建立地質(zhì)剖面提供了技術(shù)保障,。
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜,,樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強(qiáng)度成正相關(guān)關(guān)系。在混合物中,,一種物質(zhì)成分的衍射圖譜與其他物質(zhì)成分的存在與否無關(guān),,這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎(chǔ)。X 射線衍射是晶體的“指紋”,,不同的物質(zhì)具有不同的X 射線衍射特征峰值(點(diǎn)陣類型,、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數(shù)目,、位置等),,結(jié)構(gòu)參數(shù)不同則X 射線衍射線位置與強(qiáng)度也就各不相同,所以通過比較X 射線衍射線位置與強(qiáng)度可區(qū)分出不同的礦物成分,。X 射線衍射儀主要采集的是地層中各種礦物的相對含量,,并系統(tǒng)采集各種礦物的標(biāo)準(zhǔn)圖譜,包括石英,、鉀長石,、斜長石,、方解石,、白云石,、黃鐵礦等近30 種礦物成分,,通過礦物成分的相對含量就可以確定巖石巖性,為現(xiàn)場巖性定名提供定量化的參考依據(jù),,提高特殊鉆井條件下巖性識(shí)別準(zhǔn)確度。