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小面積上涂層厚度的測量是個頭疼的問題，怎么選擇小面積涂層測厚儀呢,？
我們先了解一下關(guān)于涂層厚度測量的基本知識,，再逐步分析小面積上的涂層厚度的測量方式。涂層也叫覆層,，涂層覆層厚度的測量方法主要有：楔切法,，光截法，電解法,，厚度差測量法,，稱重法，X射線熒光法,，β射線反向散射法,，電容法、磁性測量法及渦流測量法等,。這些方法中前五種是有損檢測,，測量手段繁瑣，速度慢,，多適用于抽樣檢驗,。生產(chǎn)中磁性法和渦流法是常用的涂層厚度測量方式，估計要占到95%以上,。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小,。因有放射源,，使用者必須遵守射線防護規(guī)范,。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層,、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用,。
申明一下,，我司（無錫君達儀器）所知道的知識也是有限的，太深奧的關(guān)于涂層厚度的測量機理也不懂,，我們只是就自己掌握的東西和大家交流。文章謝絕復制和轉(zhuǎn)摘,！
測量涂層厚度采用磁感應原理時,，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度,。也可以測定與之對應的磁阻的大小,，來表示其覆層厚度。覆層越厚,，則磁阻越大,，磁通越小。
測量涂層厚度采用電渦流原理時,，高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流,。測頭離導電基體愈近,，則渦流愈大，反射阻抗也愈大,。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。
在涂層厚度的實際測量中,，影響測量數(shù)據(jù)的度的因素有很多,，比如邊緣效應，表面粗糙度以及變形基體的磁性能電性能等,。
這里講到了邊緣效應,，就關(guān)乎小面積上涂層厚度的測量了。當工件面積很小,，比如直徑小于5毫米,，那么無論是磁感應還是電渦流涂層厚度測量原理，傳感器所發(fā)出的磁場或電渦流,，作用在基體上后,，電磁場將會是不規(guī)則的,，這就給主機的計算帶來的困難，具體表現(xiàn)為無顯示,，或即使有顯示,，測試涂層厚度數(shù)據(jù)和真實涂層厚度數(shù)據(jù)差異很大。
用戶如果自己的產(chǎn)品面積很小,，用普通的測厚儀是無法測量的,，常規(guī)的涂層測厚儀要求工件面積直徑10mm以上。因為小面積的涂層厚度的測量要求高同時市場需求很小,，這就給涂層測厚儀的研發(fā)帶來了效益上的考慮,。目前，國內(nèi)的小面積涂層厚度測量還是個薄弱環(huán)節(jié),，雖然標稱zui小可測5毫米,，但效果差強人意。國外（德國）的有測到磁性3毫米渦流2毫米的,，使用起來還可以,。國內(nèi)的如TT260配F400探頭和CNO2探頭，探頭和主機需要較真（用戶不要動手?。﹪獾?/span>EPK的1100配N02探頭和F05探頭,。具體的還需要進一步交流。
同時,，正因為小面積的涂層厚度的測量基本已經(jīng)達到本身小面積涂層厚度測量的極限,，所以，在小面積的涂層厚度的實際測試時,，涂層厚度的測試精度,，客戶不要太較真。
