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貨物所在地：上海上海市
更新時間：2025-05-22 10:07:09
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Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD
——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產(chǎn)專用高分辨率 X 射線衍射系統(tǒng)
產(chǎn) 品 概 述
Bruker’的 JV-QCVelox 是長期運行的 JV-QC 儀器中新,、先進的 HRXRD,。
它是化合物半導體行業(yè)高分辨率 X 射線衍射的專用質(zhì)量控制工具,。 它適用于表征所有常見的半導體襯底,，包括Si,、GaAs,、InP、GaN 等,。
測量可以部分或*自動化運行,，用戶可自定義的腳本處理日常工作。
VeloMAX™ 光學器件：通過 10 倍以上的強度改進實現(xiàn)高生產(chǎn)率
JV-QC-Velox 系統(tǒng)的入射光束包括許多標準功能以獲得高強度,。 晶體選擇根據(jù)材料進行了優(yōu)化：
·在不損失分辨率的情況下,，提高了通量并提高了可重復性。
·在不降低分辨率的情況下,，可以實現(xiàn)比以前更快的測量和更高的精度,。 這是在 MQW 分析中保持準確的成分值的關(guān)鍵。
·多層反射鏡作為所有 JV-QC-Velox 系統(tǒng)的標準配置
·對于高鑲嵌樣品,，使用 25 英寸的調(diào)節(jié)晶體發(fā)散角來增強系統(tǒng)（標配）
·對于傳統(tǒng)的 III-V 系統(tǒng),，可以提供更高分辨率的調(diào)節(jié)晶體 (<10") 來代替 25" 晶體（需要在采購訂單上注明）
·系統(tǒng)的校準可以輕松安全地進行，機柜中沒有開梁,。
·檢測器級包括許多標準功能,，可以增強系統(tǒng)的能力
·EDRc（增強動態(tài)范圍）檢測器的動態(tài)范圍 > 2x107
·自動衰減器，通過控制軟件進行控制,。這將系統(tǒng)動態(tài)范圍增加到超過3x108
·三軸晶體是獲得所需晶體的關(guān)鍵GaN測量的分辨率,。
·電動探測器狹縫允許對系統(tǒng)進行控制分辨率，無需手動更換模塊
·所有探測器級組件都是自動對齊的通過電腦
HRXRD 技術(shù)
材料：單晶襯底（例如 Si、GaAs,、InP,、GaN）和外延
層，包括多層結(jié)構(gòu)
參數(shù)：層厚度,、成分和松弛,、應變、區(qū)域均勻性,、失配,、摻雜劑水平、錯切,、層傾斜,。
·直接測量多層結(jié)構(gòu)內(nèi)層的松弛/應變/組成
·自動樣品校準、測量,、分析和報告
·由 JV-RADS 軟件執(zhí)行的分析,。
·化合物半導體襯底可實現(xiàn)對稱,、非對稱和斜對稱反射
VeloSWAP: 高級樣品板
運動學樣品板：可以快速更換樣品板——每個板都可以在幾秒鐘內(nèi)移除/更換,。 由于運動加載，安裝后無需對齊板,。 可以提供多個板并互換使用,。
·31 x 2" 運動學樣品板，用于大批量測量,，以增加板重新加載之間的
時間并提高生產(chǎn)力和工具效率,。
·外部條碼閱讀器可以安裝到工具或獨立站。
JV-QCVelox 配備機器人,，可從晶圓盒進行全自動測量
·2" 至 200 毫米磁帶
·自動檢測晶圓盒尺寸
·任意數(shù)量插槽的任意配方組合
·提高更大晶圓尺寸的生產(chǎn)力
·無需人工處理晶圓,，提高晶圓清潔度
bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD產(chǎn)品規(guī)格
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