VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準(zhǔn)直的 UltraScan™ 干涉儀,，能夠為您帶來光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及光學(xué)元件為儀器的靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證,。VERTEX 80v采用真空光學(xué)臺,，可消除大氣中的水分吸收，從而實現(xiàn)靈敏度和穩(wěn)定性,，助力進(jìn)行諸多高難度試驗,，如高分辨率,、快速掃描、步進(jìn)掃描或紫外光譜范圍測量,。
得益于VERTEX 80/80v 的光學(xué)設(shè)計,，系統(tǒng)具備靈活性。布魯克光學(xué)的DigiTect™技術(shù),，有助于避免外部信號干擾,，保證了儀器的佳信噪比，這使得用戶可以輕松重復(fù)地自行更換檢測器,。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦,。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結(jié)合，即便是使用室溫DTGS檢測器,，也能達(dá)到近期重新發(fā)現(xiàn)的太赫茲光譜范圍,。
譜區(qū)擴展
VERTEX 80/80v可通過配備各種光學(xué)選件，來覆蓋從遠(yuǎn)紅外或太赫茲開始,，經(jīng)中紅外和近紅外,、可見光到紫外光的光譜區(qū)域。其預(yù)準(zhǔn)直光學(xué)元件以及主動準(zhǔn)直的UltraScan™干涉儀,，使切換和維護(hù)變得十分簡單,。
BMS-c： 布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。
您可以在真空條件下,，通過遠(yuǎn)程控制自動更換多達(dá)4種不同類型的分束器?，F(xiàn)在，您無需泄光譜儀真空打開光學(xué)臺來手動切換分束器,，就能測量從紫外/可見光到遠(yuǎn)紅外/太赫茲的完整光譜范圍,。
光學(xué)分辨率
VERTEX 80 和 VERTEX 80v 標(biāo)準(zhǔn)配置提供優(yōu)于 0.2cm-1的標(biāo)點光譜分辨率，這足以進(jìn)行大多數(shù)環(huán)境壓力氣相研究和室溫樣品測量,。對于先進(jìn)的低溫工作,，例如在晶體半導(dǎo)體材料或低壓力下進(jìn)行氣相測量，提供優(yōu)于 0.06cm-1 的 PEAK 分辨率,。這是使用商用臺式 FT-IR 光譜儀實現(xiàn)的高光譜分辨率,。可見光譜范圍內(nèi)的高分辨率光譜顯示分辨率（波數(shù) + 除以光譜分辨率 ? +）更好的 300,，000：1,。
多功能
創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計使靈活性和拓展能力佳的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學(xué)臺,，該系統(tǒng)在中紅外,、近紅外和遠(yuǎn)紅外區(qū)域具有靈敏度，而不必?fù)?dān)心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋,。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來成果,，例如在低至 10-3 單層的納米科學(xué)研究領(lǐng)域,。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制,。光學(xué)臺的右側(cè),、前側(cè)和左側(cè)布有5個光束輸出端口，右側(cè)和后側(cè)有兩個光束輸入端口,。因此,，它可以同時進(jìn)行連接：例如，后側(cè)輸入端口的同步輻射光源,、右側(cè)輸出口的 PMA50 偏振調(diào)制附件,、右前側(cè)端口的光纖耦合模塊、左前側(cè)的輻射熱測量計探測器以及左側(cè)輸出端口的 HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡,。
VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發(fā)應(yīng)用的理想儀器。
全新附件： 布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠(yuǎn)紅外/太赫茲分束器,，拓展了分束器的選擇范圍,。特別是在半導(dǎo)體和其它無機材料研究與開發(fā)應(yīng)用中，由于全新的遠(yuǎn)紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 到5 cm-1左右的光譜范圍,，并且能夠?qū)⒅屑t外與遠(yuǎn)紅外/太赫茲波譜范圍連接起來,，因此它還能帶來更多價值。
VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的研究級儀器,。其創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計使得強大的臺式吹掃和真空光譜儀成為可能,。它們能夠提供從紫外/可見光（50000 cm-1） 到遠(yuǎn)紅外/太赫茲（5 cm-1）的廣泛光譜范圍、高的光譜和時間分辨率以及靈活性,。多功能VERTEX 80/80v 系統(tǒng)能夠通過技術(shù),，為所有研究應(yīng)用提供解決方案。
研究與開發(fā)
用于幅度/相位調(diào)制光譜的連續(xù)和步進(jìn)掃描技術(shù)
用于高時間分辨率實驗的快速,、交叉和步進(jìn)掃描技術(shù)（步進(jìn)掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜）
對周期性有序微觀材料進(jìn)行表征
用于氣體分析分辨率優(yōu)于0.06 cm-1的高分辨率光譜
用于真空紅外光束裝置的系統(tǒng)化
酶催化實驗的停流方法
外接高真空測量腔室
用于電極表面和電解質(zhì)原位研究的FTIR 光譜電化學(xué)
制藥
測定分子的絕對構(gòu)（VCD）
通過熱分析對藥物產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進(jìn)行表征 (TGA-FTIR)
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分多晶型
聚合物與化學(xué)
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)識別聚合物復(fù)合材料中的無機填料
聚合物動態(tài)和流變學(xué)研究
測定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)
反應(yīng)監(jiān)測和反應(yīng)控制 （中紅外光纖探頭）
識別無機礦物質(zhì)和顏料
表面分析
薄膜和單分子層檢測與表征
結(jié)合偏振調(diào)制進(jìn)行表面分析 (PM-IRRAS)
材料科學(xué)
光學(xué)和高反射材料（光窗,、反射鏡）的表征
通過光聲光譜學(xué)（PAS）研究深色物質(zhì)和深度剖析
材料的發(fā)射行為表征
半導(dǎo)體
硅晶圓中氧和碳含量的測定
淺能級雜質(zhì)的低溫透射和光致發(fā)光（PL）測量進(jìn)行質(zhì)量控制
外接附件、光源和檢測器
VERTEX 80/80v光譜儀配備了5個光束出口和兩個光束入口,，可連接外部激光器和同步輻射光源,。此外，借助外部測量附件,、光源和檢測器,，您可輕松升級光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)。包括如下內(nèi)容：
用于VCD和PM-IRRAS的PMA 50偏振調(diào)制附件
PL II 光致發(fā)光模塊
RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡
TGA-FT-IR 聯(lián)用
HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡
HYPERION 3000 FTIR 成像系統(tǒng)
HTS-XT 高通量篩選eXTension
IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件
外部樣品室XSA（真空或吹掃）
外部真空密閉的高真空腔室(UHV)
真空PL/PT/PR測量單元
低溫液氦或無低溫液體恒溫器
帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元（用于固體和液體）
大型積分球
自動進(jìn)樣器
外部遠(yuǎn)紅外Hg燈光源
寬帶中紅外-遠(yuǎn)紅外檢測器
固態(tài)遠(yuǎn)紅外/太赫茲分束器
外部發(fā)射適配器
外部高性能中紅外光源
外部高性能可見光源
外部真空4位檢測器腔（用于真空光學(xué)系統(tǒng)）
適用于遠(yuǎn)紅外光譜范圍檢測的輻射熱測量計
自動分束器切換單元（BMS-c）（真空光學(xué)系統(tǒng)）
上海爾迪儀器科技有限公司代理bruker多型號產(chǎn)品
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