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貨物所在地：北京北京市
所在地： 丹麥
更新時(shí)間：2025-04-16 21:00:08
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| DME原子力顯微鏡高精度工作臺(tái)： 適用于蔡司FE-SEMs 和SEM/AFM混合體系 高精度工作臺(tái)：在亞微米的樣品定位精度下尋找和發(fā)現(xiàn)你的目標(biāo)區(qū)域（ROI） 樣品定位是流暢和有效工作流程的關(guān)鍵,，尤其是當(dāng)樣品需要多種方法觀察或其處于自動(dòng)化進(jìn)程中 借助集成的參比光,，定位精度優(yōu)于蔡司的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)可以達(dá)到的500nm 尋找和發(fā)現(xiàn)ROI的過(guò)程能夠被更可靠的執(zhí)行 |
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