電路板高低溫老化箱是科文專業(yè)為電路板行業(yè)產品研發(fā)設計的一款高低溫試驗箱,。用于測試電路板,，線路板，PCB板,，F(xiàn)PC板在通電使用時老化測試,。測試其在高溫、低溫,、高低溫循環(huán),、高低溫恒定等環(huán)境溫度下使用時是否有元器件老化或損壞。

適用于：電路板,、線路板,、PCB板、鋁基板,、高頻板,、PCB,、超薄線路板、超薄電路板,、印刷電路板,、LED、LCD,、IC,、LED光電、LCD液晶屏,、LED照明,、LED顯示器、LCD模組,、LED模組,、電器、電子,、電工,、電池、電源,、數(shù)碼產品,、塑膠、塑料,、橡膠,、化工、涂料,、五金,、建材、軍工,、汽車等產品及零部件,。

電路板高低溫老化試驗箱技術參數(shù)：

1、產品型號：KW-GD-80/KW-GD-150/KW-GD-225/KW-GD-408/KW-GD-800/KW-GD-1000

2,、容積分別：80L,、150L、225L,、408L,、800L、1000L

3,、溫度范圍：Z：0℃～150℃,，T：-20℃～150℃，F(xiàn)：-40℃～150℃,，S：-70℃～150℃ 

4,、溫度波動度：≤±0.5℃

5,、溫度均勻度：≤±2℃

6、濕度波動：±2.5%R.H

7,、升溫速率: 1.0～3.0℃/min 

8,、降溫速率: 1.0～1.3℃/min

電路板高低溫老化箱符合標準：

GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件

GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件

GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件

GBT5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備

GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法

GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B高溫試驗方法

GB2424.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

操作運行畫面

是東莞市科文試驗設備有限公司專業(yè)為電路板行業(yè)研發(fā)的測試設備之一，科文多年來專業(yè)重視電路板行業(yè)的用戶所開發(fā)的產品其中還有電路板高低溫老化試驗箱,、PCB電路板恒溫恒濕試驗箱,、PCB電路板冷熱沖擊試驗箱、PCB電路板高溫老化試驗箱,、線路板高低溫試驗箱,、線路板高低溫濕熱試驗箱、PCB電路板紫外線老化試驗箱,、電路板高溫老化房等電路板行業(yè)所用的可靠性試驗設備,。