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LED燈具質(zhì)量檢測方法關(guān)鍵缺陷及改善策略

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LED燈具質(zhì)量檢測方法關(guān)鍵缺陷及改善策略

LED燈具質(zhì)量檢測主要包括:高溫老化試驗(yàn),,高低溫老化試驗(yàn),,恒溫恒濕試驗(yàn),,冷熱沖擊試驗(yàn),,紫外光加速老化試驗(yàn),鹽霧腐蝕試驗(yàn),,干燥試驗(yàn),電阻電源等老化壽命試驗(yàn),。提升LED照明燈具品質(zhì)的*方法,,建立可靠性實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行品質(zhì)檢測。

     傳統(tǒng)的 LED 及其模塊光,、色,、電參數(shù)檢測方法有電脈沖驅(qū)動(dòng),CCD 快速光譜測量法,,也有在一定的條件下,,熱平衡后的測量法,但這些方法的測量條件和結(jié)果與LED 進(jìn)入照明器具內(nèi)的實(shí)際工作情況都相差甚遠(yuǎn),。文章介紹了通過Vf-TJ 曲線的標(biāo)出并控制LED 在控定的結(jié)溫下測量其光,、色、電參數(shù)不僅對(duì)采用LED的照明器具的如何保證LED 工作結(jié)溫提供了目標(biāo)限位,,同時(shí)也使LED 及其模塊的光,、色,、電參數(shù)的測量參數(shù)更接近于實(shí)際的應(yīng)用條件。文章還介紹了采用LED的照明器具如測量LED 的結(jié)溫并確定LED 參考點(diǎn)的限值溫度與結(jié)溫的函數(shù)關(guān)系,。這對(duì)快速評(píng)估采用LED 的照明器具的工作狀態(tài)和使用壽命提供了一個(gè)有效的途徑,。

一、 序言

對(duì)于一個(gè)新興的產(chǎn)品,,其產(chǎn)品自身的發(fā)展總是先于產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法,。雖然產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法不可能先于產(chǎn)品的研發(fā),但是,,產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法應(yīng)盡可能地緊跟產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)的進(jìn)度,,因?yàn)楫a(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法的制定過程本身就是對(duì)產(chǎn)品研發(fā)過程的回顧研討和小結(jié),只要條件基本成熟,,產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法的制訂越及時(shí),,就越能減少產(chǎn)品研發(fā)過程的盲目性。LED 照明產(chǎn)業(yè)發(fā)展到現(xiàn)在,,我們對(duì)LED 照明產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法的回顧,、小結(jié)的時(shí)候已經(jīng)基本到來。北京高低溫濕熱試驗(yàn)箱

二,、 LED 模塊的光電參數(shù)和檢測方法的現(xiàn)狀和改進(jìn)方法

1,、傳統(tǒng)的LED 模塊的檢測方法

目前傳統(tǒng)的 LED 模塊的檢測方法主要有兩種,*種是采用脈沖測量的方法,,它是把照明LED 模塊固定在測量裝置上(例如積分球的測量位置等),,采用脈沖恒流電源與瞬時(shí)測量光譜儀的同步聯(lián)動(dòng),即對(duì)LED 發(fā)出數(shù)十毫秒~數(shù)佰毫秒恒流的脈沖電流的同時(shí),,同步打開瞬時(shí)測量光譜儀器的快門,,對(duì)LED 發(fā)出的光參數(shù)(光通量、光色參數(shù)等)進(jìn)行快速檢測,,同時(shí),,也同步采集LED 的正向壓降和功率等參數(shù)。由于這種方式在檢測過程中,,LED 的結(jié)溫幾乎等同于室溫,,所以,測量結(jié)果的光效高,,光色和電參數(shù)與實(shí)際使用情況有明顯差異,,這一般都是LED 芯片(器件)生產(chǎn)商采用的快速檢測方法,而與LED 實(shí)際應(yīng)用在zui終照明器具中的狀態(tài)不具有可參比性,。北京高低溫濕熱試驗(yàn)箱

  第二種檢測方法是把LED模塊安裝在檢測裝置上后,,可能帶上一固定的散熱器(也可能具有基座控溫功能),給LED施加其聲稱的工作電流,受傳統(tǒng)的照明光源檢測方法的影響,,也是等到LED達(dá)到熱平衡后再開始測量它的光電參數(shù),。這種方法看似比較嚴(yán)密,但實(shí)際上,,它的熱平衡條件和工作條件與此類LED裝入zui終的照明器具中的狀態(tài)仍沒有好的關(guān)聯(lián)性,,因此所測的光電參數(shù)與今后實(shí)際的應(yīng)用狀態(tài)的參數(shù)仍不具有可參比性。已經(jīng)頒布的GB/T24824-2009/CIE 127-2007NEQ《普通照明用LED模塊的基本性能的測量方法》標(biāo)準(zhǔn)中,,在這方面是這樣規(guī)定的:'試驗(yàn)或測量時(shí)LED模塊應(yīng)工作在熱平衡狀態(tài)下,,在監(jiān)視環(huán)境溫度的同時(shí),能監(jiān)視LED模塊自身的工作溫度,,以保證試驗(yàn)的可復(fù)現(xiàn)性,。如可能監(jiān)測LED模塊結(jié)電壓,則應(yīng)監(jiān)測結(jié)電壓,。否則,,應(yīng)監(jiān)測LED模塊溫度測量點(diǎn)的溫度'??梢娫诒O(jiān)測結(jié)電壓的條件下來測量LED 模塊的光電參數(shù)是保證檢測重現(xiàn)性的方案,,但是,標(biāo)準(zhǔn)中沒有指明在模擬實(shí)際使用結(jié)溫條件下檢測LED 模塊的光,、色,、電參數(shù)。

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