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概述

TBPS01近場探頭由TH20,，H10，H5和E5是磁場（H）和電場（E）探頭,，用于輻射發(fā)射EMC預一致性測量,。探頭用于電磁輻射源的近場。它們用于在電子組件的構造塊中定位和識別潛在的干擾源,。這些探針的作用類似于寬帶天線,，用于拾取組件，PCB跡線,，外殼開口或縫隙以及可能發(fā)射射頻的任何其他部件的輻射,。探頭通常連接到頻譜分析儀。在PCB組件或外殼的表面上掃描探針可以快速確定發(fā)出電磁輻射的位置,。通過更換為較小尺寸的探頭,，可以進一步縮小發(fā)射源的范圍。其他應用是通過將RF信號饋入探頭并將其輻射到潛在敏感的電路部分中來進行RF抗擾度測試：此外,，探頭可用于維修或調試領域,，以通過減少接觸式RF測量來跟蹤RF信號鏈中的問題。信號電平,。另一種應用是對射頻構件（例如調制器或振蕩器）的*測量,。頻率，相位噪聲和頻譜分量可以與低噪聲前置放大器一起測量,。

應用：

EMI輻射預測/整改

探頭尺寸：

頻率響應：

耦合衰減：