X光測金屬電鍍層厚度返回列表頁

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產(chǎn)品型號

品牌SKYRAY/天瑞儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地深圳市

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更新時(shí)間：2024-07-07 10:38:57瀏覽次數(shù)：225次

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產(chǎn)品分類品牌分類

鍍層厚度測試儀: x射線鍍層測厚儀

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	價(jià)格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

X光測金屬電鍍層厚度是天瑞儀器實(shí)惠的鍍層測厚儀；儀器采用下照式結(jié)構(gòu),，適合平面樣品的檢測,，配置的軟件界面簡潔，測試樣品用時(shí)40S,，售后服務(wù)及時(shí),。

詳情介紹

X光測金屬電鍍層厚度是天瑞儀器實(shí)惠的鍍層測厚儀；儀器采用下照式結(jié)構(gòu),，適合平面樣品的檢測，配置的軟件界面簡潔，測試樣品用時(shí)40S,，售后服務(wù)及時(shí),。

鍍層厚度測試方法般有以下幾種方法：

1,、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005

2,、X-ray法（X射線法）,。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005

3、庫侖法,，此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

X光測金屬電鍍層厚度測量標(biāo)準(zhǔn)

1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

儀器分析原理

Thick600采用的是種XRF光譜分析技術(shù),，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息,。

樣品測試步驟

1）每天開機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick"：

用戶使用“Administrator",，密碼：skyray

2）進(jìn)入測試軟件后，選擇“測試條件"

點(diǎn)擊“確定",，即測試條件確定（儀器已設(shè)置好）

3）選擇“工作曲線"

如待測樣品是鐵鍍鎳,，則選擇Ni-Fe,；其他依次類推

4）放入“Ag片"對儀器進(jìn)行初始化

初始化完成后，（峰通道為1105,，計(jì)數(shù)率達(dá)到定的數(shù),，如300以上）,。

5）待測樣品測試

放入待測的樣品，通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,，以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn),?？梢酝ㄟ^軟件提供的十字坐標(biāo)（也稱十字光標(biāo)）來定位該聚焦點(diǎn),，將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開始"，輸入樣品名稱后“確定",。

6）測試完成后即可保持報(bào)告,，報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告"快捷方式中的“鍍層報(bào)告"中找到。

注意：測試鍍層樣品時(shí),，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應(yīng)的工作曲線測試,。

儀器性能特點(diǎn)

1. 穩(wěn)定X銅光管,；
2.半導(dǎo)體硅片電制冷探測器，摒棄元素識別能力較弱的計(jì)數(shù)盒,；
3.內(nèi)置天瑞儀器研發(fā)部研發(fā)的—信噪比增強(qiáng)器（SNE）與MCA多道分析器,；
4.內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時(shí)觀測樣品,；
5.脈沖處理器,，數(shù)據(jù)處理快速；
6.手動(dòng)開關(guān)樣品腔,，操作安方便；
7.三重安保護(hù)模式,；

8.整體鋼架結(jié)構(gòu),、外型簡潔；
9.FP軟件,，無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可測量,。