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當(dāng)前位置:深圳市天瑞儀器股份有限公司>>鍍層厚度測(cè)試儀>> x射線(xiàn)膜厚儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌SKYRAY/天瑞儀器
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2024-07-07 10:34:14瀏覽次數(shù):236次
聯(lián)系我時(shí),,請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)X射線(xiàn)電鍍厚度檢測(cè)儀產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)
X射線(xiàn)電鍍鍍層熒光測(cè)試儀產(chǎn)品說(shuō)明
鍍層測(cè)厚測(cè)試儀生產(chǎn)廠(chǎng)及價(jià)格采購(gòu)
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
x射線(xiàn)膜厚儀Thick800A是款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀,,使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測(cè)器,,其探測(cè)器分辨率低為139eV,處于際水平,;產(chǎn)品采用上照式設(shè)計(jì),,多重防輻射保護(hù)裝置以及X射線(xiàn)發(fā)生器,使輻射劑量符合際規(guī)定,;樣品觀(guān)察系統(tǒng)采用CCD攝像頭,、數(shù)字多道分析器、激光定位以及自主研發(fā)的專(zhuān)用測(cè)厚分析軟件,,各項(xiàng)指標(biāo)均符合相關(guān)技術(shù)要求,,技術(shù)達(dá)際水平。
x射線(xiàn)膜厚儀Thick800A優(yōu)點(diǎn)簡(jiǎn)述
該款鍍層儀器專(zhuān)為電子半導(dǎo)體,、五金電鍍,、印刷線(xiàn)路板、首飾手表,、檢測(cè)機(jī)構(gòu)等行業(yè)量身打造的專(zhuān)業(yè)儀器,。XYZ三個(gè)可調(diào)節(jié)方向,、方位的樣品觀(guān)察系統(tǒng)和激光定位使得檢測(cè)更方便。超大的測(cè)試內(nèi)部空間,,良好的散熱效果和抗電磁干擾能力,,模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使安裝、調(diào)試,、維護(hù)更方便,,可適應(yīng)惡劣工作環(huán)境
電鍍適用范圍
鐵基----□Fe/Zn, □Fe/Cu,□Fe/Ni,,□Fe/Cu/Sn,,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,, □Fe/Cu/Ni/Cr,, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基-----□Cu/Ni,,□Cu/Ag,,□Cu/Au,□Cu/Sn,,□Cu/Ni/Sn,,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,,□Cu/Ni/Cr
鋅基-----□Zn/Cu,,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu,,□Al/Ni,,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni,,plastic/Cu/Ni/Cr
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線(xiàn)光譜方法
2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
1 快速:般測(cè)量個(gè)樣品只需要10S~60S,,樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理;
2 無(wú)損:物理測(cè)量,,不改變樣品性質(zhì),;
3 :對(duì)樣品可以分析;
4 直觀(guān):直觀(guān)的分析譜圖,,元素分布幕了然,,定性分析速度快;
5 環(huán)保:檢測(cè)過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣,、廢水,。
性能特點(diǎn)
滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線(xiàn)屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
儀器:X熒光鍍層測(cè)厚儀
型號(hào):Thick 800A
外型尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸: 500(W)×350(D)×140(H) mm
樣品臺(tái)尺寸: 230(W)×210(D)mm
Z軸升降平臺(tái)升降范圍: 0~140mm
平臺(tái)移動(dòng)測(cè)量范圍 : 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
分析方法: FP與EC法兼容能量色散X熒光分析方法
測(cè)量元素范圍 :原子序數(shù)為16S~92U之間的元素均可測(cè)量
同時(shí)檢測(cè)元素 次可同時(shí)分析多24個(gè)元素,,五層鍍層
檢出限 :金屬鍍層分析薄可達(dá)0.005μm
厚度范圍:分析鍍層厚度般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同)
穩(wěn)定性: 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)1%
檢測(cè)時(shí)間 :30-60秒
探測(cè)器及分辨率 :25mm2Be窗口SDD探測(cè)器,,分辨率140±5eV
激發(fā)源: 50KV/1000uA-W靶X光管及高壓電源
多道分析器 : DMCA數(shù)字多道分析技術(shù),分析道數(shù)4096道
準(zhǔn)直器和濾光片 固定Ф0.2mm準(zhǔn)直器,,可選配其他孔徑,,Al濾光片
定位 :平臺(tái)電機(jī)重復(fù)定位精度小于0.1um
樣品觀(guān)察: 配備CCD多彩攝像頭,圖像放大可達(dá)40倍,,實(shí)現(xiàn)微小樣品清晰定位,。
平臺(tái)穩(wěn)定性 :Z軸測(cè)試平臺(tái)采用恒力彈簧平衡重力,實(shí)現(xiàn)平臺(tái)的恒力升降,,降低Z軸電機(jī)負(fù)荷,,并了Z軸的垂直度。
安性 雙重安保護(hù)設(shè)施:防撞激光檢測(cè)器與樣品室門(mén)開(kāi)閉傳感器,;待機(jī)無(wú)輻射,,工作時(shí)輻射水平遠(yuǎn)低于際安標(biāo)準(zhǔn),且具有軟件連動(dòng)裝置,。
操作環(huán)境溫濕度 :15℃~30℃,,≤70%
儀器重量 :90kg
工作電源:交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
標(biāo)準(zhǔn)配置
開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),,探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),,實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路,。
高低壓電源,。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
軟件優(yōu)勢(shì)
采用公司新的能量色散X熒光FpThick軟件,,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件,,具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短,、鍵智能化操作,。譜圖區(qū)域采用動(dòng)態(tài)模式,測(cè)試時(shí)元素觀(guān)察更直觀(guān),。
具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式自由添加,,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差,。
安裝要求
1 環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
2 環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
3 工作電源:交流220±5V
4 周?chē)荒苡袕?qiáng)電磁干擾,。
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