電鍍層膜厚分析儀THICK800A根據(jù)測(cè)量原理般有以下五種類(lèi)型:
1.磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量.導(dǎo)磁材料般為:鋼\鐵\銀\鎳.此種方法測(cè)量精度高
2.渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量.此種方法較磁性測(cè)厚法精度低
3.超聲波測(cè)厚法:目前內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,外個(gè)別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合.但般價(jià)格昂貴\測(cè)量精度也不高.
4.電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層.般精度也不高.測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩
5.放射測(cè)厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴(般在10萬(wàn)RMB以上),適用于些特殊場(chǎng)合.
鍍層測(cè)厚儀覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法,，光截法,，電解法,，厚度差測(cè)量法,，稱(chēng)重法,，X射線熒光法，β射線反向散射法,，電容法,、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。鍍層測(cè)厚儀這些方法中前五種是有損檢測(cè),，測(cè)量手段繁瑣,，速度慢,，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,，但裝置復(fù)雜昂貴,，測(cè)量范圍較小。因有放射源,，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范,。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層,、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用,。
鍍層測(cè)厚儀隨著技術(shù)的日益,，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型,、智能,、多功能、高精度,、實(shí)用化的方向進(jìn)了步,。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%,，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣，量程寬,、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,，是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器。
電鍍層膜厚分析儀THICK800A采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材,，檢測(cè)速度快,，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。