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綜合 |
下照式鍍層測厚儀采用的是種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子,，出現(xiàn)殼層空穴,，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。
下照式鍍層測厚儀是企業(yè)在整個采購中比較關(guān)心的個部分，買到性價比的產(chǎn)品及省了采購成本又解決了企業(yè)問題。天瑞儀器92年開始做鍍層測厚儀,，是內(nèi)早生產(chǎn)X熒光測厚儀的廠家，天瑞Thick600主要應用在膜厚檢測,，在電子電器領(lǐng)域應用廣泛,。
鍍層厚度測試方法般有以下幾種方法：
1 光學顯微鏡法,。適用標準為：GB/T6462-2005
2 X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005
3 庫侖法,，此法般為仲裁方法,。適用標準為：GB/T4955-2005
下照式鍍層測厚儀應用范圍
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定,，RoHS檢測
彈簧,、電子連接器、電子電器,、螺栓和螺母,、衛(wèi)浴、五金端子,、螺絲,、半導體封裝材料等產(chǎn)品ROHS及鍍層厚度測量。
儀器分析原理
儀器采用的是種XRF光譜分析技術(shù),，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子,，出現(xiàn)殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時,，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息,。
性能特點
Thick600采用下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求,；準直器和濾光片手動切換：不同樣品材質(zhì)用不同的準直器；移動平臺：精細的手動移動平臺,，方便定位測試點,；高分辨率探測器：提高分析的性；新代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定,，測試效率高,。
儀器軟件:
分析軟件簡介
功能介紹：快速地檢測金屬電鍍層的厚度
2 軟件界面簡潔，操作方便,，無需專業(yè)人士操作
2 軟件帶有標樣校對功能,，可以采用單標樣和多標樣，對無標樣的測試結(jié)果進行校對,，使得測試結(jié)果更接近實際值
2 無標樣分析方法(FP法）,，測試不受標準樣品的限制
2 具有自動定性分析功能，自動元素識別功能,，方便對樣品元素的識別和定性
2 具有疊加虛譜功能,，方便作樣品的定性對比分析
儀器故障的處理
儀器出現(xiàn)故障是難免的，遇到小的故障,，用戶能解決就盡量自己解決,，不能解決的,，請記下故障的現(xiàn)象，速與廠家聯(lián)系,，廠家負責維修,。維修時，如果是拔插任意連接線,，都要關(guān)計算機,、顯示器、打印機,、熒光分析儀主機,、高壓電源等的電源，絕不可以帶電操作,。下面將些常見故障以及處理方法介紹如下：
A計算機電源開著,，屏幕上不出任何東西。
檢查順序：
1.顯示器是否開著,？請開,。
顯示器與計算機的連接是否連接好？可以肯定計算機主機
沒有的故障,，檢查鍵
盤,、驅(qū)動器等是否接好。請連接好,。
2.繼續(xù)操作計算機,，是否看見驅(qū)動器燈亮或蜂鳴器聲響，若聽見聲響或見燈亮,，說明計算機主機沒有問題,，可能是顯示器或顯示卡出現(xiàn)了故障，般在當?shù)赜嬎銠C公司可以修理,。
①如果不見驅(qū)動器燈亮或蜂鳴器聲響,，則聽聽計算機主機內(nèi)的風扇是否有聲，若無聲,，則打開計算機機箱,，檢查各插板是否接好；并除去光譜儀和計算機連接線,，再開計算機電源檢查計算機是否工作正常,。
②若仍不正常，則計算機主板出了故障,，可找當?shù)氐挠嬎銠C公司更換主板,。
B進到了X熒光分析軟件中，但測試時不走時間,。
檢查順序：
1.可能是光譜儀與計算機主機的連接不好,。
2.請用螺絲刀固緊其連接線,。
3.可能是軟件測量時間設置為零了。
① 進到了熒光分析軟件中,，但譜線與正常的譜線有嚴重的差別,。
請先檢查計數(shù)率是否在正常范圍內(nèi)，如果在則確認bios里面的并口模式是否正常,，如果以上情況都正常,，但仍然得不到正常的譜線，可以通知廠家,。
② 測試過程中經(jīng)常死機,、時間不走、不出譜線等,。
檢查順序：
1.是否沒調(diào)出工作曲線,。
2.估計電源不穩(wěn)或有電瞬間沖擊，請配交流凈化穩(wěn)壓電源,。
3.室溫是否過高,？是否周圍震動厲害。
4.是否有電廠,、大電機,、電焊等的干擾。
5.更換計算機的主機板,。
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